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自動光譜橢偏儀SENDURO® 參考價：面議
自動光譜橢偏儀SENDURO®所有的全自動光譜橢偏免除了用戶根據高度和傾斜度手動地對準樣品的麻煩，這對于高精度和可重復的光譜橢偏是必要的。
紅外光譜橢偏儀SENDIRA 參考價：面議
紅外光譜橢偏儀SENDIRA利用紅外光譜中分子振動模的吸收帶，可以分析薄膜的組成。此外，載流子濃度可以用傅立葉紅外光譜儀FTIR測量。
低成本高效益的光譜橢偏儀SENpro 參考價：面議
低成本高效益的光譜橢偏儀SENpro覆蓋寬的光譜范圍，從190 nm(深紫外)到3500 nm(近紅外)。傅立葉紅外光譜儀FTIR提供了高光譜分辨率用以分析厚度...
橢偏反射儀 參考價：面議
橢偏反射儀性能優異的多角度手動角度計和角度精度*的激光橢偏儀允許測量單層薄膜和層疊膜的折射率、消光系數和膜厚。
光譜橢偏儀 參考價：面議
光譜橢偏儀我們的自動掃描的選項具有預定義或用戶定義的模式、廣泛的統計以及數據的圖形顯示，如2D顏色、灰度、輪廓、+/-偏離平均值和3D繪圖。
光譜橢偏儀 參考價：面議
光譜橢偏儀SENDURO® 所有的全自動光譜橢偏免除了用戶根據高度和傾斜度手動地對準樣品的麻煩，這對于高精度和可重復的光譜橢偏是必要的。該的自動對準傳...
光譜橢偏儀 參考價：面議
光譜橢偏儀SENDIRA用于測量薄膜厚度，折射率，消光系數以及體材料，單層和多層堆疊膜的相關特性。特別是覆蓋層下面的層在可見范圍內是不透明的，現在也可以進行測量...
光譜橢偏儀 參考價：面議
光譜橢偏儀SENpro具有操作簡單，測量速度快，能對不同入射角的橢偏測量數據進行組合分析等特點。光譜范圍為370到1050 nm。SENpro的光譜范圍與精密的...
光譜橢偏儀 參考價：面議
光譜橢偏儀為了獲得測量結果，在數據采集過程中沒有光學器件運動。步進掃描分析器(SSA)原理是SENresearch 4.0光譜橢偏儀的一個特性。通過創新的雙補償...
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