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纖維集合體綜合分析系統 參考價：面議
纖維測量儀器用來測量單纖維在不同的試驗參數下（例如：拉伸速度、隔距）下力學性能（模量、斷裂功和斷裂伸長等）、外觀形態（纖維的形貌、直徑、長度、斷裂斷形貌和斷裂過...
彎曲疲勞測試儀 參考價：面議
纖維測量儀器用來測量單纖維在不同的試驗參數下（例如：拉伸速度、隔距）下力學性能（模量、斷裂功和斷裂伸長等）、外觀形態（纖維的形貌、直徑、長度、斷裂斷形貌和斷裂過...
納米纖維張力儀 參考價：面議
纖維測量儀器用來測量單纖維在不同的試驗參數下（例如：拉伸速度、隔距）下力學性能（模量、斷裂功和斷裂伸長等）、外觀形態（纖維的形貌、直徑、長度、斷裂斷形貌和斷裂過...
單纖維壓縮彎曲儀 參考價：面議
纖維測量儀器用來測量單纖維在不同的試驗參數下（例如：拉伸速度、隔距）下力學性能（模量、斷裂功和斷裂伸長等）、外觀形態（纖維的形貌、直徑、長度、斷裂斷形貌和斷裂過...
單纖維壓縮拉伸彎曲儀 參考價：面議
纖維測量儀器用來測量單纖維在不同的試驗參數下（例如：拉伸速度、隔距）下力學性能（模量、斷裂功和斷裂伸長等）、外觀形態（纖維的形貌、直徑、長度、斷裂斷形貌和斷裂過...
單纖維強力測試儀 參考價：面議
纖維測量儀器用來測量單纖維在不同的試驗參數下（例如：拉伸速度、隔距）下力學性能（模量、斷裂功和斷裂伸長等）、外觀形態（纖維的形貌、直徑、長度、斷裂斷形貌和斷裂過...
單纖維長度儀 參考價：面議
纖維測量儀器用來測量單纖維在不同的試驗參數下（例如：拉伸速度、隔距）下力學性能（模量、斷裂功和斷裂伸長等）、外觀形態（纖維的形貌、直徑、長度、斷裂斷形貌和斷裂過...
光學系統同軸照明ZOOM 9 : 1 參考價：面議
連續變倍同軸照明光學鏡/ZOOM 9 : 1 （ ZOOM 9 : 1 ）
光學系統復消色差物鏡 參考價：面議
復消色差物鏡的結構復雜，透鏡采用了特種玻璃或螢石等材料制作而成，物鏡的外殼上標有“Apo" 字樣 ，這種物鏡不僅能校正紅綠藍三色光的色差，同時能校正紅，藍二色光...
光學系統UD-4ｘ-15-OP 參考價：面議
用于半導體、電子基板、LCD、TFT、PDP等領域的觀察、測量及定位。
光學系統紫外照射器 （ ZUV-30H/LED） 參考價：面議
光學和電子行業的產品粘接固化和封裝，以及材料老化、光生物學和光化學，熒光激發、 無損探傷及實驗室測。
顯微光學影像系統 參考價：面議
主要用于觀察細小物體的形狀, 測量細小物體的大小, 由于配備了各種可變長焦距的鏡頭, 可以觀察并記錄細小物體的變化情況, 放大倍數可達準納米級，比如結晶過程, ...
光學系統TL-200S-OP 參考價：面議
f=200mm小型無限同軸照明光學鏡筒TL-200S-OP用途:用于半導體、電子基板、LCD、TFT、PDP等領域的觀察、測量及定位。
光學系統TL-200S 參考價：面議
f=200mm小型無限同軸照明光學鏡筒TL-200S用于半導體、電子基板、LCD、TFT、PDP等領域的觀察、測量及定位。
光學系統3W-0.5x-1.0x-2.0x 參考價：面議
用于半導體、電子基板、LCD、TFT、PDP等領域的觀察、測量及定位。
束纖維強力測試儀 參考價：面議
測量束纖維的力學性能，具有較高的自動化程度。用來測量束纖維的力學拉伸性能。 可自動梳理，切割和稱量。根據不同的材料，能選配不同的產品，能選擇不同的夾頭，數字觀察...
高精度短纖維形態和力學性能測試儀 參考價：面議
本儀器采用特殊的精密夾頭對試樣進行夾持，保證纖維的伸直，在拉伸過程中不打滑。本儀器通過水平的光學測量系統對纖維的表面形態進行觀察和拍攝纖維的拉伸過程，并且通過垂...
單纖維輪廓儀 參考價：面議
纖維測量儀器用來測量單纖維在不同的試驗參數下(例如：拉伸速度、隔距)下力學性能(模量、斷裂功和斷裂伸長等)、外觀形態(纖維的形貌、直徑、長度、斷裂斷形貌和斷裂過...
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