冰箱系統測水儀CD/USI-3
產品簡介:
以干燥載氣將被測樣件內的殘留水載入儀器內的電解池進行吸收和電解,通過所消耗的電量積分測知被測系統殘留水總量,并以mg為單位顯示。
該儀器適用于測定電冰箱或空調蒸發器、冷凝器及其它封閉系統內的殘留水總量,具有準確、快速、操作方便等優點,而且用戶可隨時很方便地用標樣(一定量的蒸餾水)檢定儀器的可靠性。
主要技術指標:
測量范圍:0~100mg (必要時可擴大)
冰箱系統測水儀CD/USI-3準確度:不大于±3% (含水量大于1mg時)
或不大于±0.030mg (含水量小于或等于1mg時)
工作條件:電源:交流220±22V, 50~60Hz 直流:10~45V(僅供干燥時選用)
環境溫度:5~40℃
載氣(鋼瓶氮氣):含水量<200μL/L
流量 70±20 mL/min
外型尺寸:360mm(W)×160mm(H)×340mm(D)
輸出信號:0~10mV ,可選配RS232接口及軟件,以保存數據和打印報告。
重 量:約5kg
電測水位計 型號:DP68BS
DP68BS系列便攜式電測水位計適用于地質、礦山、水文等部門的水文觀測孔、地質鉆孔、水井、水庫大壩及江河湖海的直接測量zui后計算讀數之差得出zui后結果,以替代目前常用的測繩、測鐘、電線、萬用表等原始落后的簡易測水方法。
DP68BS系列便攜式電測水位計由測線、探頭、水位檢測器、卷線輪、支架、導電機構、搖把、皮背包等組成,其主要特點是體積小、重量輕、價格便宜、攜帶方便。
測量方法:
技術特點:
① zui大測量深度:700m
② zui大測量誤差:≤±0.1%F.S(zui大±0.1
m/100m),達到ISO規定的三級水位計精度標準。
③ 探頭直徑:14mm,探頭敏感區域≤±5mm。
④ 重復測量精度:≤±10mm。
⑤ 測線技術條件:外徑2.0,7/0.25鍍鋅鋼芯,高密度聚乙烯緣,破斷拉≥25 kgf。
⑥ 水位檢測器靈敏度:外接大地電阻≥500KΩ。
⑦ 水位檢測器功耗:≤15mA。
⑧ 水位檢測器電源:6F22、9V疊層電池。
⑨ 使用環境:-20℃~+40℃,相對濕度85%。
外形尺寸(mm):330x86x220
探頭:Φ14
雷達遙測水位計 遙測水位計 型號:XD2206-LD
雷達遙測水位計多用于淤積非常嚴重的引黃灌區渠道或河道的水位監測。雷達遙測水位計為一體化水位遙測設備,安裝在渠道邊上的安裝桿上,由于雷達遙測水位計,利用電磁波作為傳輸介質,因此測量精度不受溫度、潮濕、風速的影響,是一款高精度、高可靠的水位測量設備。
雷達遙測水位計特點:
●雷達遙測水位計采用一體化結構,用于多淤積渠道或河道的高精度、高穩定、高可靠的水位測量;
●設備構成:將雷達水位計、智能電路、GPRS遠程通訊電路、現地無線射頻電路、密封殼、太陽能電池板及充電控制電路、喇叭口雷達天線高度集成,一體化設計;
●正常情況下,水位上報次數每天1-24次,可由上位軟件設定;
●當水位變化率過設定值時(即水位跳變),水位值立即上報,水位跳變值由上位軟件設定;
●水位上限可預設,水位過此值, GPRS上報時間間隔可以任意由上位軟件設定;
●用無線手操器在10米范圍內,可進行水位校準;
●通過GPRS無線網絡與遠程上位計算機進行數據傳輸。
相關產品:水位監測軟件 XD-2C00
產品名稱:氣固相流化床催化反應實驗裝置 產品型號:TH-CHLHC |
氣固相流化床催化反應實驗裝置 型號:TH-CHLHC
實驗目的:
1、了解流化床反應器的工作原理及結構。
2、加氫、脫氫、氧化、烴化、芳構化、氨化等有機催化反應。
主要配置:
流化床反應器、預熱器、計量泵、風機、氣體轉子流量計、濕式氣體流量計、溫控儀表、壓力儀表、不銹鋼框架及控制屏。
技術參數:
1、不銹鋼反應器:φ25×650mm。三段加熱,總功率:3KW,使用溫度:6000C。
2、預熱器:φ10×250mm,加熱功率:1KW。
3、催化劑裝載量:10-150ml。
4、氣體轉子流量計量程:0.05-0.5L/min。
5、風機:采用HG-370W型空氣旋渦泵;功率:370W;風壓:11.76kPa;風量:48m3/h。
6、泵的型號微型隔膜計量泵;功率:30W;流量:9L/h;沖程頻率:120/minute;吸程:2m。
7、濕式氣體流量計:型號:LML-2,額定流量:0.5m3/h,容積:5L/轉,精度:±1%。
8、冷凝器:φ40×400mm;氣液分離器:φ50×150mm。
9、各項操作及壓力、流量的顯示、調節、控制全在控制屏板面進行。
10、框架為不銹鋼材質,結構緊湊,外形美觀,流程簡單、操作方便。
11、外形尺寸:1600×600×1800mm。
數據采集 配計算機、微機接口和數據處理軟件、溫度傳感器、溫度巡檢儀。能在線監測溫度實驗數據。
產品名稱:數字式硅晶體少子壽命測試儀/少子壽命測試儀 產品型號:DZ-LT-100C |
數字式硅晶體少子壽命測試儀 型號:ZD-LT-100C
為解決太陽能單晶、多晶少子壽命測量,特按照國標GB/T1553及SEMI MF-1535用高頻光電導法研制出了數字式少子壽命測試儀。
該設備是按照標準GB/T1553“硅單晶少數載流子壽命測定的高頻光電導衰減法”設計制造。高頻光電導衰減法在我國半導體集成電路、晶體管、整流器件、核探測器行業已運用了三十多年,積累了豐富的使用經驗,經過數次全國十多個單位巡回測試的考驗,證明是一種成熟可靠的測試方法,特別適合于硅塊、硅棒研磨面的少子體壽命測量;也可對硅片進行測量,給出相對壽命值。方法本身對樣品表面的要求為研磨面,制樣簡便。
DZ-LT-100C數字式硅晶體少子壽命測試儀有以下特點:
1、 可測量太陽能級多晶硅塊、單晶硅棒少數載流子體壽命。表面無需拋光,直接對切割面或研磨面進行測量。同時可測量多晶硅檢驗棒及集成電路、整流器、晶體管級硅單晶的少子壽命。
2、 可測量太陽能級單晶及多晶硅片少數載流子的相對壽命,表面無需拋光、鈍化。
3、配備軟件的數字示波器,液晶屏上直接顯示少子壽命值,同時顯示動態光電導衰退波形,并可聯用打印機及計算機。
4、配置兩種波長的紅外光源:
a、紅外光源,光穿透硅晶體深度較深≥500μm,有利于準確測量晶體少數載流子體壽命。
b、短波長紅外脈沖激光器,光穿透硅晶體深度較淺≈30μm,但光強較強,有利于測量低阻太陽能級硅晶體。
5、測量范圍寬廣
測試儀可直接測量:
a、研磨或切割面:電阻率≥0.3Ω•㎝的單晶硅棒、定向結晶多晶硅塊少子體壽命,切割片的少子相對壽命。
b、拋光面:電阻率在0.3~0.01Ω•㎝范圍內的硅單晶、鍺單晶拋光片。
壽命可測范圍 0.25μS—10ms