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XD2/3型多晶X射線衍射儀用于晶體物質結構定性定量分析。該產品設計精密,硬件、軟件功能齊全,靈活適應各種物質微觀結構的測試、分析和研究,其技術水平已達到國內水平。產品采用了θ-θ測角儀立式、中空軸、射線管座與測角臺一體化的結構,可對粉末、大塊不規則固體、液體樣品進行測試。
結構新,采用*的立式測角儀結構,更加方便的樣品放置方式,對于操作、維護的工作力度大為簡化,更加直觀的使用,便于清理實驗后的樣品臺。
采用細分驅動電源技術,精度高,重現性達到0.0006°、測量重復性0.001°、zui小步進角度0.0005°;
進口NaI閃爍晶體計數探測器,分辨率及長期使用穩定性好;
X射線管套采用整體銅棒材加工定位精度、射線防護性更好;采用了轉輪式快門,開關速度更快,故障率更低,射線阻斷性更好,機柜外輻射劑量低于0.2μSv/h(國標規定要求低于2.5μSv/h);
X射線光源的數字控制電路作了進一步的改善,X光機的工作功率*由計算機遙控設定。高壓與管流的加載過程受微電腦控制自動操作,使用更加簡單,運行更加可靠;
中文視窗操作界面,全新改版的PDP衍射數據處理軟件包。在數據輸出多樣性方面作了重大改進。
配置名稱 | XD2/3 | |
X射線管 (Cu靶國產) | 種類 | Cu靶,NF型(其它靶材可選) |
功率 | 2.0kW | |
焦點 | 1.0×10mm2 | |
X射線發生器 | zui大輸出 | 4KW |
X光管電壓 | 15~60kV,1kV /Step | |
X光管電流 | 6~80mA,1mA /Step | |
管電壓、管電流穩定度 | ≤0.01%(電源低壓浮動10%) | |
測角儀 | 測角儀結構 | θs-2θd(XD2) θs-θd(XD3) |
測角儀掃描半徑 | 180mm | |
掃描角度范圍 | -30~80°(θs) -30~160°(θd) | |
工作方式 | 連續掃描、定時步進掃描、定數步進掃描 | |
連續掃描速度 | 0.125~120°/min | |
zui高轉速 | 120°/min | |
2θ角重復精度 | ≤0.0006° | |
zui小步進角度 | 0.0005° | |
測量準確度 | ≤0.001° | |
發散狹縫(DS) | 1/6°、1/2°、1°、2° | |
防散射狹縫(SS) | 1/2°、1°、2° | |
接收狹縫(RS) | 0.1,0.15,0.3,0.45,0.6,1,2mm | |
調整狹縫 | 0.02mm | |
檢測器 計數器 | 晶體類型 | NaI |
脈沖幅度分析器(HV/PHA) | 輸出高壓0~1000V,穩定性≤0.01%(8h) | |
機柜 | 機柜尺寸(mm) | 1200(長)×400(寬)×1850(高) |
整機重量(kg) | 500 | |
觀察窗(mm) | 600(高)×400(寬)×10(厚)鉛玻璃 | |
X射線泄露量 | ≤0.1μSv/h(未扣除天然本底) | |
安全措施 | 門聯鎖保護(門到位置,光閘才打開,產生X射線) | |
濾波器 | Ni濾片 | 對應Cu靶 |
石墨彎晶單色器 | 反射效率η≥28% | |
綜合指標 | 整機綜合穩定度 | ≤0.3% |
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