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上海儲冷蓄熱溫度沖擊箱

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  • 品牌 lab Companion
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 東莞市
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更新時間：2022-11-16 11:15:50瀏覽次數(shù)：1013

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),農(nóng)業(yè),電子
TS系列上海儲冷蓄熱溫度沖擊箱設(shè)備規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗功能，實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；高強度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計- 確保了設(shè)備的高可靠性.

詳細(xì)介紹

TS系列上海儲冷蓄熱溫度沖擊箱

*設(shè)備特點
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；
設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗功能，實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；
高強度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計- 確保了設(shè)備的高可靠性；
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強，使用壽命長；
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到zui小；
表面噴塑處理- 保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命；
高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門的高密封性；
多種可選功能（測試孔、記錄儀、測試電纜等）保證了用戶多種功能和測試的需要；
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果；
環(huán)保型制冷劑 –確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護(hù)要求；
*可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標(biāo)/定制各種選配功能
上海儲冷蓄熱溫度沖擊箱 溫度控制
可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實現(xiàn)試驗過程的全程記錄和追溯；
每臺電機均配置過流（過熱）保護(hù)/加熱器設(shè)置短路保護(hù)，確保了設(shè)備運行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要；
采用流行的制冷控制模式，可以0%~100%自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用產(chǎn)品，使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；
設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗
GJB 150.5A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗

GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗

      TS系列   技術(shù)參數(shù)

型 號

 

  
TSL-80-A
TSU-80-W
TSS-80-W		 TSL-150-A
TSU-150-W
TSS-150-W		 TSL-225-W
TSU-225-W
TSS-225-W		 TSL-408-W
TSU-408-W
TSS-408-W
標(biāo)稱內(nèi)容積（升） 80 150 200 300
試驗方式 氣動風(fēng)門切換2溫室或3溫室方式
性能 高溫室 預(yù)熱溫度范圍 ＋60～＋200℃
升溫速率※1 ＋60→＋200℃≤20分鐘
低溫室 預(yù)冷溫度范圍 －78－0℃
降溫速率※1 ＋20→－75℃≤80分鐘
試驗室 溫度偏差 ±2℃
溫度范圍 TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃;
TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃;
TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃
溫度恢復(fù)時間※2 5分鐘以內(nèi)
試樣擱架承載能力 30kg
試樣重量 7.5kg 7.5kg 10kg 10kg
內(nèi)部尺寸（mm） W 500 600 750 850
H 400 500 500 600
D 400 500 600 800
外形尺寸（mm）※4 W 1460 1560 1710 1880
H 1840 1940 1940 2040
D 1500 1600 1700 1900
※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗箱單獨運轉(zhuǎn)時的性能。
※2恢復(fù)條件：室溫為＋25℃和循環(huán)水溫為＋25℃，試樣是塑料封裝集成電路。（均布）


 

 

 

型號

 
 

TSL-80-A

TSU-80-W

TSS-80-W

TSL-150-A

TSU-150-W

TSS-150-W

TSL-225-W

TSU-225-W

TSS-225-W

TSL-408-W

TSU-408-W

TSS-408-W

標(biāo)稱內(nèi)容積（升）

80

150

200

300

試驗方式

氣動風(fēng)門切換2溫室或3溫室方式

性能

高溫室

預(yù)熱溫度范圍

＋60～＋200℃

升溫速率※1

＋60→＋200℃≤20分鐘

低溫室

預(yù)冷溫度范圍

－78－0℃

降溫速率※1

＋20→－75℃≤80分鐘

試驗室

溫度偏差

±2℃

溫度范圍

TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃;

TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃;

TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃

溫度恢復(fù)時間※2

5分鐘以內(nèi)

試樣擱架承載能力

30kg

試樣重量

7.5kg

7.5kg

10kg

10kg

內(nèi)部尺寸（mm）

W

500

600

750

850

H

400

500

500

600

D

400

500

600

800

外形尺寸（mm）※4

W

1460

1560

1710

1880

H

1840

1940

1940

2040

D

1500

1600

1700

1900

※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗箱單獨運轉(zhuǎn)時的性能。

※2恢復(fù)條件：室溫為＋25℃和循環(huán)水溫為＋25℃，試樣是塑料封裝集成電路。（均布）

 


 冷熱沖擊試驗箱規(guī)格表(Programmable Thermal Shock Tster)

---- 不符合此規(guī)格◎符合此規(guī)格★可配增加此功能※可配增加LN2功能

 

試驗規(guī)范

 駐留溫度(℃)
(exposure temp.)

駐留溫度時間(Min)
(exposure time)

覆歸時間
(recovery time)

 周期
或次數(shù)

試驗起
始點

備注

適用機臺型號
TS-(80/150/225/408)

高溫

室溫

低溫

高溫/低溫

室溫

S

U

L
MIL-STD-883E
(Method 010.7)

+85

+10

----

-55

0

≧10min
≦15min

----

含駐留時間&
轉(zhuǎn)換時間≦15min

zui少
10次

低溫或
高溫

Temperature Cycling
(轉(zhuǎn)換時間<1min)
實驗過程若中斷
超過總實驗之1/10
次則實驗須重做

◎

◎

----

0

+125

+15

◎

◎

----

0

-10

+150

+15

◎

◎

----

0

+150

+15

-65

0

◎

.

----

0

-10
MIL-STD-202F
(Method 07G)		 +83

+3

-25

+10

-55

0

28g以下
15～30 Min
28～136g
30Min
136g～1.36Kg
60Min
1.36～13.6Kg
120Min
13.6~136Kg
240Min

Max.
5 Min

5 Min 以內(nèi)

5 cycle
25
50
100

低溫

Transfer time
不超過5 min

◎

◎

◎

0

-3
+125

+3

-65

0

◎

◎

----

0

-5

-5
+125

+3

-65

0

◎

◎

----

0

-5
JIS C 0025 
IEC 68-2-14
GB 2423.22

+70

+85

+100

+125

±2

±2

±2

±2

室溫

-5

-10

-25

-40

-55

-65

±3
±3
±3
±3
±3
±3

3hr
2hr
1hr
30min
或無定義則
以3hr定義

手動轉(zhuǎn)
移時間
2～3Min

為駐留時間
之1/10

 5 cycle
除非有
其它規(guī)格

低溫

Auto 
Transfer time
不超過30 sec
小試件
Transfer time
不超過10 sec

★

★

★

◎

◎

◎

◎

◎

◎

◎

◎

◎
   

◎

◎

◎
   

◎

◎

----
IPC 2.6.7 +70

±2

----

0

+0

15 Min

----

2 Min 以內(nèi)

100 cycle

高溫
(試驗結(jié)束
點在高溫)

Transfer time
不超過2 min

★

★

★

-0

-5
+85

+5

-40

+0

◎

◎

◎

-0

-5
+105

+5

-55

+0

◎

◎

．

-0

-5
+105

+5

-65

+0

．

．

----

-0

-5
+105

+5

    

．

．

----

-0
IPC 2.6.6 +85

+3

 -25 +10 -55

+0

30 Min

 10-15 
Min		   5 cycle    

◎

◎

◎

-0

 -5
+125

+3

 -5 -65 +0

◎

◎

----

-0

 -5
Bellcore
GR-1221-CORE		 +70

±2

----

  

≧10min
≦15min

----

含駐留時間
&轉(zhuǎn)換時間≦15min

500 cycle
OR
1000cycle

    

◎

◎

◎
 
+80

±2

◎

◎

◎
 
JESD22
A104-A		 +125

+10

  

-40

+0

≦15min

  

含駐留時間
&轉(zhuǎn)換時間≦15min

抽10次
可接受;
1000次
合格

  

Temperature
Cycling
(轉(zhuǎn)換時間<1min)
實驗過程若中斷
超過總實驗之1/10
次則實驗須重做

◎

◎

◎

-0

-10
+85

+10

-55

+0

◎

◎

．

-0
+125

+10

-0

-10
+150

+10

-0
+150

+10

-65

+0

◎

    
       

 

  宏展擁有一個專業(yè)從事環(huán)境試驗設(shè)備研發(fā)的科研機構(gòu)，具備成熟的環(huán)試研制手段與試驗室，聚集了行業(yè)內(nèi)一批優(yōu)秀的各類人才和專家，強大的研發(fā)團隊著國內(nèi)環(huán)試技術(shù)發(fā)展方向．現(xiàn)目前，公司具有自主知識產(chǎn)權(quán)的高低溫試驗箱、高低溫濕熱試驗箱、快速溫度變化試驗箱、冷熱沖擊試驗箱、三綜合試驗箱、高低溫低氣壓試驗箱、太陽輻射試驗箱、工業(yè)烤箱以及步入式高低溫濕熱試驗箱和高風(fēng)速淋雨試驗箱等氣候環(huán)境試驗設(shè)備及訂制產(chǎn)品處于國內(nèi)、高水準(zhǔn)。  

 

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