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首頁>>先鋒科技(香港)股份有限公司>>產品展示>>OTSUKA/日本大冢

  • 半導體膜厚測試儀 參考價:面議

    半導體膜厚測試儀-OPTM 測量目標膜的絕對反射率,實現高精度膜厚和光學常數測試! (分光干渉法)
    型號: 廠商性質:代理商所在地:北京市 對比
    膜厚測試儀半導體膜厚測試儀大塚電子
    2024/10/16 10:47:212449

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