設計用途

能量色散X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF) 用來測量薄鍍層和微小結構， 分析合金和微量組分。

元素范圍

從元素 氯(17) 到 鈾(92) 配有可選的WinFTM? BASIC軟件時，zui多可同時測定24種元素

形式設計

臺式儀器，測量門向上開啟

測量方向

從上到下

X射線管

帶鈹窗口的微聚焦鎢管

高壓

三檔： 30 kV，40 kV，50 kV

孔徑（準直器）

標準（523-440）

可選（523-366）

可選（524-061）

4個可切換準直器

[mm]: ?0.1, ?0.2, 0.05x0.05, 0.2x0.03 [mm]: ?0.1, ?0.2, ?0.3, 0.3x0.05 [mm]: ?0.1, ?0.2, 0.3 x 0.05, 0.05x0,05 其他可按要求定制

基本濾片

3種可切換的基本濾片（標準配置：鎳，鋁，無）

測量點

取決于測量距離及使用的準直器大小， 實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的* zui小的測量點大小: 光圈約? 0.1 mm（選用準直器0.05x0.05 mm時）

X射線接收器

測量距離

比例接收器

0 ~ 80 mm，使用保護的DCM測量距離補償法

視頻系統

高分辨率CCD彩色攝像頭，沿著初級X射線光束方向觀察測量位置 手動聚焦，對被測位置進行監控 十字線（帶有經過校準的刻度和測量點尺寸） 可調節亮度的LED照明，激光光點用于定位樣品

放大倍數

40x - 160x

電源要求

交流 220 V 50 Hz

功率

zui大 120 W (不包括計算機)

保護等級

IP40

外部尺寸

寬x深x高[mm]：570 x 760 x 650

內部測量室尺寸

重量

寬x深x高[mm]：460 x 495 x 146

120kg

工作臺

設計

馬達驅動可編程X/Y平臺

zui大移動范圍                    255 × 235 mm

X/Y平臺移動速度                ≤ 80 mm/s

X/Y平臺移動重復精度            ≤ 0.01 mm, 單向

可用樣品放置區域                300 × 350 mm

Z軸                            可編程運行

Z軸移動范圍                    140 mm

樣品zui大重量                    5 kg，降低精度可達20kg

樣品zui大高度                    140 mm

環境要求

使用時溫度

10°C – 40°C

存儲或運輸溫度

0°C – 50°C

空氣相對濕度

≤ 95 %, 無結露

計算單元

計算機

帶擴展卡的計算機系統

軟件

標準： WinFTM? V.6 LIGHT 可選： WinFTM? V.6 BASIC，PDM?，SUPER

執行標準

CE合格標準

EN 61010

X射線標準

DIN ISO 3497和 ASTM B 568

型式批準

安全而保護全面的測量儀器， 型式許可符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V"法規規定。

訂貨號

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237

604-347