保修期限 | 1年 | 產地類別 | 進口 |
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產品成色 | 9成新 | 使用年限 | 3-4年 |
應用領域 | 化工,文體,石油,電子,紡織皮革 |
EDX-LE是一款于RoHS/ELV/法規限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。 配備無需液氮型電子制冷(Si-PIN檢測器)檢測器,因此在實現降低運作成本和更易維護的同時,以維持高可信性分析和進一步提高操作性達到自動化分析為目標。
參考價 | ¥10 |
訂貨量 | 1 件 |
更新時間:2024-01-22 14:35:30瀏覽次數:2129
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加工定制:否 | 品牌:SHIMADZU/島津 | 型號:EDX-700,EDX-720,EDX-GP,EDX-LE |
測量范圍:見圖 | 測量精度:0-3 | 尺寸:面議(mm) |
適用范圍:廣泛 |
·采用島津的x射線聚光透鏡[集束毛細管透鏡],x射線只照射樣品的50μmφ微小領域,實現高靈敏度、高精度分析。
·可以在大氣中進行從輕元素到重元素(na~u:μedx-1300;al~u:μedx-1200/1400)的分析。
·配備雙ccd(高倍率,低倍率)攝像頭,可以在觀察樣品圖像的同時方便地決定分析位置,進行分析。
·標準配備無標樣定量fp法、薄膜成分/膜厚分析用的薄膜fp法以及可以測定聚合物薄膜的背景基本參數(bg-fp)法。
·作為微區x射線熒光光譜分析裝置,在世界上配備了5種1次x射線濾光片自動交換機構,可消除來自x射線管的特征x射線,提高信噪比。
·配備多元素同時/自動掃描成圖功能。采用高速掃描成圖,在短時間內便可獲得圖像(μedx-1200/1300)。追加透射觀察單元(選購),也可進行透射x射線的同時測定。
·配備電子冷卻式高計數率檢測器。無需液氮,可進行高精度分析。
(μedx-1400)
·可輕松地進行電子材料/部件的鍍層膜厚測定、異物檢測、失效解析及成圖分析。
※ 產品詳細參數
1.分析原理:能量色散x射線熒光分析法
2.分析元素:k~u任意元素,鉛(pb)、汞(hg)、六價鉻(cr6+)、多溴聯苯(pbb)和多溴聯苯醚(pbde)中的溴
3.工作條件:工作溫度:10-30℃相對濕度:≤70%
電源:ac220v±10%、50/60hz
4.技術指標新高靈敏度探測器(分辨率達149ev),精密的放大電路,
提高cd、pb元素的靈度。
檢出下限(cd/pd):cd/cr/hg/br≦2ppm,pb≦5ppm
樣品形狀:任意大小,任意不規則形狀
樣品類型:塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體
小樣品腔尺寸:300×300×100mm
大樣品腔尺寸:樣品尺寸不受限制
x射線管:靶材/mo管電壓/5~50kv管電流/大1~1000μa
照射直徑:2、5、8mm
探測器:si(pin)半導體高靈敏度探測器
濾光片:八種新型濾光片自動選擇
樣品定位:微動載物平臺(選配)
樣品觀察:130萬分辨率彩色ccd攝像機
微區分析:x光聚焦微區分析系統(選配)軟件
定量分析:理論alpha系數法(nbs-gsc法)
數據處理:pc/at/內存/256mb以上/硬盤/80g以上,windowsxp系統。