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目錄:深圳市天創(chuàng)美科技有限公司>>電鍍層檢測(cè)儀>>電鍍膜厚分析儀>> 電鍍膜厚檢測(cè)儀

電鍍膜厚檢測(cè)儀
  • 電鍍膜厚檢測(cè)儀
參考價(jià) 116900
訂貨量 ≥1
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
116900
≥1
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 其他品牌
  • 型號(hào)
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 深圳市
屬性

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更新時(shí)間:2024-11-14 11:15:16瀏覽次數(shù):20852評(píng)價(jià)

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產(chǎn)地類別 國(guó)產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 文體,電子,印刷包裝,紡織皮革,冶金
電鍍膜厚檢測(cè)儀設(shè)備樣品移動(dòng)設(shè)計(jì)為樣品腔外部調(diào)節(jié),多點(diǎn)測(cè)試時(shí)移動(dòng)樣品方便快捷,有助于提升效率。
設(shè)計(jì)更科學(xué),軟硬件配合,機(jī)電聯(lián)動(dòng),輻射安全于國(guó)標(biāo)GBZ115-2002要求。
測(cè)定電鍍膜厚儀器設(shè)備不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制,在無(wú)鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測(cè)試樣品的鍍層厚度,測(cè)試結(jié)果經(jīng)得起科學(xué)驗(yàn)證。
  我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀(含能量色散和波長(zhǎng)色散型)(XRF)、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP)、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀(AFS)、原子吸收分光光度計(jì)(AAS)、光電直讀光譜儀(OES)、氣相色譜儀(GC)、氣相質(zhì)譜儀(GC-MS)、液相色譜儀(LC)、液相質(zhì)譜儀(LC-MS)、能譜儀(EDS)、高頻紅外碳硫分析儀(CS)、礦漿載流在線采樣儀(OSA)等。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾(貴金屬及鍍層檢測(cè)等)、玩具安全(EN71-3等),F963中規(guī)定的有害物質(zhì):鉛Pb、砷As、銻Sb、鋇Ba、鎘Cd、鉻Cr、Hg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材(水泥、玻璃、陶瓷等)、合金(銅合金、鋁合金、鎂合金等)、冶金(鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等)、地質(zhì)采礦(各種礦石品位檢測(cè)設(shè)備)、塑料(無(wú)鹵測(cè)試等)、石油化工、高嶺土、煤炭、食品、空氣、水質(zhì)、土壤、環(huán)境保護(hù)、香精香料、紡織品、醫(yī)藥、商品檢驗(yàn)、質(zhì)量檢驗(yàn)、人體微量元素和化合物檢驗(yàn)等等。銷售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析,化合物測(cè)試,電鍍鍍層厚度檢測(cè)等。
  電鍍膜厚檢測(cè)儀
  產(chǎn)品介紹:
  新一代國(guó)產(chǎn)專業(yè)鍍層厚度檢測(cè)儀,采用分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探測(cè)器),測(cè)量精度和測(cè)量結(jié)果業(yè)界。
  電鍍膜厚檢測(cè)儀
  X射線熒光技術(shù)測(cè)試鍍層厚度的應(yīng)用,提了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗(yàn)條件,無(wú)損、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn),對(duì)在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗(yàn)的保障。
  Ux-720鍍層測(cè)厚儀采用了新技術(shù)FlexFp -Multi,不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制,在無(wú)鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測(cè)試樣品的鍍層厚度,測(cè)試結(jié)果經(jīng)得起科學(xué)驗(yàn)證。
  樣品移動(dòng)設(shè)計(jì)為樣品腔外部調(diào)節(jié),多點(diǎn)測(cè)試時(shí)移動(dòng)樣品方便快捷,有助于提升效率。
  設(shè)計(jì)更科學(xué),軟硬件配合,機(jī)電聯(lián)動(dòng),輻射安全于國(guó)標(biāo)GBZ115-2002要求。
  軟件操作具有操作人員分級(jí)管理權(quán)限,一般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸,測(cè)試的記錄報(bào)告同時(shí)自動(dòng)添加測(cè)試人的登錄名稱。
  產(chǎn)品指標(biāo):
  測(cè)厚技術(shù):X射線熒光測(cè)厚技術(shù)
  測(cè)試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層
  測(cè)量下限:0.003um
  測(cè)量上限:30-50um(以材料元素判定)
  測(cè)量層數(shù):10層
  測(cè)量用時(shí):30-120秒
  探測(cè)器類型:Si-PIN電制冷
  探測(cè)器分辨率:145eV
  壓范圍:0-50Kv,50W
  X光管參數(shù):0-50Kv,50W,側(cè)窗類;
  光管靶材:Mo靶;
  濾光片:3種自動(dòng)切換;
  CCD觀察:260萬(wàn)像素
  微移動(dòng)范圍:XY15mm
  輸入電壓:AC220V,50/60Hz
  測(cè)試環(huán)境:非真空條件
  數(shù)據(jù)通訊:USB2.0模式
  準(zhǔn)直器:?1mm,?2mm,?4mm
  軟件方法:FlexFP-Mult
  工作區(qū):開放工作區(qū) 自定義
  樣品腔:330×360×100mm
  標(biāo)準(zhǔn)配件
  樣品固定支架1支
  窗口支撐薄膜:100張
  保險(xiǎn)管:3支
  計(jì)算機(jī)主機(jī):品牌+雙核
  顯示屏:19吋液晶
  打印機(jī):噴墨打印機(jī)
  可選配件
  可升級(jí)為SDD探測(cè)器
  可以實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)一鍵操作功能,準(zhǔn)直器自動(dòng)切換,濾光片自動(dòng)切換,開蓋隨意自動(dòng)停,樣品測(cè)試照片自動(dòng)拍照、自動(dòng)保存,測(cè)試報(bào)告自動(dòng)彈出,供應(yīng)商信息自動(dòng)篩選和保存。

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