產(chǎn)品分類品牌分類
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超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊 著色滲透探傷劑/顯像劑/滲透劑/清洗劑 磁粉檢測試塊/磁粉探傷試塊 磁粉探傷耗材 多用磁粉探傷儀 移動式磁粉探傷儀 磁粉磁軛探傷儀/磁探儀 X射線報警儀/個人計量儀 暗室紅燈/三色燈/警告燈 超聲波探傷儀/測厚儀 退磁機/線圈退磁器 冷熱觀片燈/工業(yè)評片燈 強度計/特斯拉計/高斯計 數(shù)顯黑白密度計/密度片 超聲波探傷耗材 射線探傷耗材 磁粉、磁膏、磁懸液 熒光探傷燈 高強度紫外線燈 紫外線黑光燈/LED黑光燈/熒光探傷燈 工業(yè)X光膠片 JB行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 GB國家標(biāo)準(zhǔn)試塊 焊縫自然缺陷試塊 CSK-IA超聲波試塊 超聲波檢測試塊 *標(biāo)準(zhǔn)試塊與其他*標(biāo)準(zhǔn)試塊 工業(yè)恒溫洗片機、干片機 進(jìn)口 超聲波耦合劑 其它
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
縱波檢驗柱面對比試塊
變形鋁合金產(chǎn)品超生波檢驗方法 GB/T 6519-2000
本標(biāo)準(zhǔn)選用平表面對比試塊和柱狀對比試塊二種試塊。對比試塊用于調(diào)整檢驗系統(tǒng)靈敏度、測試范圍及評定缺陷的大小和位置。
縱波檢驗柱面對比
R±0.5 | A±0.2 | B±0.2 | C | D | E | F | G | H |
100 90 75 60 50 40 32.5 25 20 12.5 | 50 45 37.5 30 25 20 16.2 12.5 10 6.2 | 100 90 75 60 50 40 32.5 25 20 12.5 | 150 135 112.5 90 75 60 48.8 37.5 30 18.8 | 12 12 12 12 12 12 12 10 8 5 | 40 40 25 25 25 25 25 25 25 25 | 40 40 40 40 40 40 40 40 25 25 | 325 325 310 310 310 310 310 310 280 280 | 50 50 50 50 50 50 40 40 40 25 |
備注:B的角度為90度±0.5度,H處寬的頂面粗糙度為Ra3.2um,A.B.C的偏差為±0.2mm
所有的平底孔孔底表面粗糙度為Ra3.2um,所有的平底孔孔徑偏差為±0.2mm