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SM230 自動光學薄膜厚度掃描測繪儀

SM230是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研制而成的自動光學薄膜厚度掃描測繪儀。

SM230自動光學薄膜厚度測繪儀由測繪主機、測繪平臺、Y型光纖及上位機軟件搭建而成，核心器件采用高分辨率、高靈敏度光譜儀和高精度的旋轉平臺。

1.產品特點：

·非接觸式、非破壞性的測試系統；

·超長壽命光源，更高的發光效率；

·高分辨率、高靈敏度光譜儀，測繪結果更準確可靠;

·軟件界面直觀，操作方便省時；

·測繪速度快，支持多點測繪點位地圖繪制;

·支持繪制樣品2D/3D厚度分布圖；

·高精度、長壽命的3軸旋轉平臺；

·歷史數據存儲，幫助用戶更好掌握結果;

·桌面式分布設計，適用場景豐富;

2.應用領域：

·半導體鍍膜    ·光學鍍膜     ·液晶顯示    

·微電子系統    ·生物醫學

3. 選型與規格參數：

光學膜厚儀通過測量薄膜的光學性質來確定膜的厚度。其原理基于薄膜在不同波長的光線下會發生干涉現象。當光線穿過薄膜時，會發生反射和透射，反射和透射的光線會發生干涉，形成明暗條紋。通過測量這些干涉條紋的特征，可以計算出薄膜的厚度。

光學膜厚儀通常使用白光或單色光源照射在薄膜上，然后測量反射光的強度或干涉條紋的間距，從而推斷出薄膜的厚度。這種方法適用于各種類型的薄膜，如光學鍍膜、涂層、光學薄膜等。通過光學膜厚儀可以非常精確地測量薄膜的厚度，廣泛應用于光學、電子、材料等領域。