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詳細介紹
NS3600三維激光共聚焦顯微鏡
NS-3600是一種可靠的三維(3D)測量高速共焦激光掃描顯微鏡(CLSM)。通過快速光學掃描模塊和信號處理算法實現實時共焦顯微圖像。在測量和檢測微觀三維結構，如半導體晶片，FPD產品，MEMS設備，玻璃基板，材料表面等方面擁有*的解決方案。
Features & Benefits（性能及優勢）：
高分辨無損傷光學3D測量 自動傾斜補償
實時共焦成像 簡單的數據分析模式
多種光學變焦 雙Z掃描
大范圍拼接 半透明基材的特征檢測
實時CCD明場和共聚焦成像 無樣品準備
自動聚焦
Software (軟件）：
Application field（應用領域）：
NS-3500是測量低維材料的有前途的解決方案。
可測量微米和亞微米結構的高度，寬度，角度，面積和體積，例如
-半導體:IC圖形，凹凸高度，線圈高度，缺陷檢測，CMP工藝
- FPD產品:觸摸屏屏幕檢測，ITO圖案，LCD柱間距高度
- MEMS器件:結構三維輪廓，表面粗糙度，MEMS圖形
-玻璃表面:薄膜太陽能電池，太陽能電池紋理，激光圖案
-材料研究:模具表面檢測，粗糙度，裂紋分析
Specifications（規格）：
Model | Microscope NS-3600 | 備注 | ||||
物鏡倍率 | 10x | 20x | 50x | 100x | ||
觀察/ 測量范圍 | 水平 (H): μm | 1400 | 700 | 280 | 140 | |
垂直 (V): μm | 1050 | 525 | 210 | 105 | ||
WD: mm | 16.5 | 3.1 | 0.54 | 0.3 | ||
| 數值孔徑(N.A.) | 0.30 | 0.46 | 0.80 | 0.95 | ||
觀察/測量光學系統 | 針孔共聚焦光學系統 | |||||
高度測量 | 測量掃描范圍 | 10mm | ||||
顯示分辨率 | 0.001 μm | |||||
重復率 σ | 0.02 μm | 注1 | ||||
寬度測量 | 顯示分辨率 | 0.001 μm | ||||
重復率 3σ | 0.03 μm | 注 2 | ||||
幀記憶 | 像素 | 1024x1024, 1024x768, 1024x384, 1024x192, 1024x96 | ||||
單色圖像 | 12 bit | |||||
彩色圖像 | 8-bit for RGB each | |||||
高度測量 | 16 bit | |||||
幀速率 | 表面掃描 | 20 Hz to 160 Hz | ||||
線掃描 | ~8 kHz | |||||
激光接收元件 | PMT (光電倍增管) | |||||
激光 | 波長 | 638nm (2mW) | ||||
光學觀察照相機 | 成像元件 | 彩色圖像 CCD 傳感器 | ||||
記錄分辨率 | 1296x966 | |||||
數據處理單元 | PC | |||||
電源 | 電源電壓 | 100 to 240 VAC, 50/60 Hz | ||||
電流消耗 | 500 VA max. | |||||
重量 | 顯微鏡 | 大約. ~50 kg (測量頭大約: ~12 kg) | ||||
控制器 | ~8 kg | |||||
隔振系統 | 氣浮隔振 | Option | ||||
注1:100次測量標準樣品(1μm高度) 100 x/ 0.9物鏡。
注2:100次測量標準樣品(5μm 間距) 100 ×/ 0.9物鏡。
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