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INTECS英特斯晶圓檢測倉庫現(xiàn)貨檢查用照明裝置UIH-2DPX 4204
UltraINSP - 晶圓表面缺陷檢測系統(tǒng)PX 7337
半導體晶圓缺陷檢測儀PX 2952
Hologenix微米晶圓缺陷檢測系統(tǒng)PX 2072
HEP-MC8000晶圓檢測機PX 1830
晶圓翹曲應力測量儀PX 1845
ET200A型微型輪廓儀(光學檢測)PX 1800
AX7900晶圓缺陷X-RAY檢測設備PX 4106
晶圓缺陷檢測:寬場熒光顯微成像模組PX 5668
WD4000無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)PX 4748
SG-O光焱科技CIS/ALS/光傳感器晶圓測試儀PX 3037
AWL系列半導體晶圓缺陷檢測/國產(chǎn)晶圓搬運機PX 3278
2830 ZT馬爾文帕納科晶圓分析儀PX 2410
UltraINSP 晶圓表面缺陷檢測系統(tǒng)PX 7337
LODAS™ – LI系列FPD Photomask缺陷檢查裝置PX 7337
LODAS™ – BI12GlassWafe缺陷檢查裝置PX 7337
CI8化合物半導體SiC、GaN晶圓檢查裝置PX 7337
LODAS™ – BI8Photomask Blanks缺陷檢查裝置PX 7337
LODAS™ – AI50/100Photomask Blanks缺陷檢查裝置PX 7337
Nanotronics nSpec LS晶圓缺陷檢測光學系統(tǒng)PX 7337
YAMADA愛安德光學晶圓缺陷YP-150ID瑕疵現(xiàn)貨光源HPS-150PX 4204
YAMADA愛安德目視晶圓缺陷YP-250ID現(xiàn)貨控制器HPS-250PX 4204
FUNATECH船越龍手持式晶圓缺陷光學玻璃檢查燈FY-18N現(xiàn)貨PX 4204
FUNATECH船越龍手持式FY-18L晶圓缺陷光學玻璃檢查燈現(xiàn)貨PX 4204
FUNATECH船越龍手持式晶圓缺陷光學玻璃檢查燈FY-18NH現(xiàn)貨PX 4204
FUNATECH船越龍手持式晶圓缺陷光學玻璃檢查燈FY-18LH現(xiàn)貨PX 4204
FUNATECH船越龍手持式缺陷玻璃FY-18LH表面瑕疵現(xiàn)貨檢查燈PX 4204
FUNATECH船越龍手持式缺陷玻璃FY-18NH表面瑕疵現(xiàn)貨檢查燈PX 4204
FUNATECH船越龍手持式FY-18N缺陷玻璃表面瑕疵現(xiàn)貨光源PX 4204
FUNATECH船越龍手持式缺陷玻璃表面瑕疵現(xiàn)貨光源FY-18LPX 4204
YAMADA愛安德光學晶圓缺陷玻璃YP-150ID表面瑕疵現(xiàn)貨光源PX 4204
YAMADA愛安德光學晶圓缺陷玻璃表面瑕疵YP-250ID現(xiàn)貨光源PX 4204
YAMADA愛安德光學晶圓缺陷玻璃表面瑕疵現(xiàn)貨YP-150I光源PX 4204
YAMADA愛安德光學晶圓缺陷玻璃表面瑕疵現(xiàn)貨光源YP-250IPX 4204
YAMADA愛安德目視晶圓缺陷400000lux現(xiàn)貨YP-250I照明裝置PX 4204
YAMADA愛安德目視晶圓缺陷YP-150I 400,000luxes照明裝置PX 4204
YAMADA愛安德目視YP-250ID晶圓缺陷400,000luxes照明裝置PX 4204
YAMADA愛安德目視晶圓缺陷400,000luxes照明裝置YP-150IDPX 4204
YAMADA愛安德晶圓缺陷目視用現(xiàn)貨高亮度YP-150ID鹵素射燈PX 4204
YAMADA愛安德晶圓缺陷目視用現(xiàn)貨YP-250ID高亮度鹵素射燈PX 4204
薄膜生長設備
工藝測量和檢測設備
集成電路測試與分選設備
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熱工藝設備/熱處理設備
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其它半導體行業(yè)儀器設備
光學晶圓缺陷YP-150ID瑕疵現(xiàn)貨光源HPS-150
目視晶圓缺陷YP-250ID現(xiàn)貨控制器HPS-250
晶圓翹曲應力測量儀
手持式晶圓缺陷光學玻璃檢查燈FY-18N現(xiàn)貨
手持式FY-18L晶圓缺陷光學玻璃檢查燈現(xiàn)貨
手持式晶圓缺陷光學玻璃檢查燈FY-18NH現(xiàn)貨
手持式晶圓缺陷光學玻璃檢查燈FY-18LH現(xiàn)貨
手持式缺陷玻璃FY-18LH表面瑕疵現(xiàn)貨檢查燈
晶圓缺陷光學檢查燈185LE目視光源185LE現(xiàn)貨
晶圓缺陷X-RAY檢測設備
半導體晶圓缺陷檢測/國產(chǎn)晶圓搬運機
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質譜
上海平軒科學儀器有限公司
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