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半導體專用溫控裝置PX 1900
半導體制冷冷水機 普泰克PX 1900
半導體晶圓溫度控制PX 1900
半導體溫控設備ChillerPX 1900
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LST體微缺陷測試設備PX 2952
LEIModel1605非接觸遷移率測試系統PX 2952
LEI88非接觸方塊電阻測試系統PX 2952
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SRP 擴展電阻測試PX 2952
準穩態-光致發光測試設備PX 2952
WT-2000PL光致發光檢測設備PX 2952
LEI Model2017B汞探針測試PX 2952
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少子壽命/ μ LBIC變溫測試系統PX 2952
WT-2000半導體多功能測試PX 2952
WT-1200A 單點式少子壽命測試系統PX 2952
半導體參數分析儀PX 2952
HANWA HED-C5000R CDM測試設備PX 2745
XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測試儀PX 6631
ZBDR-10A界面材料熱阻及熱傳導系數測量儀PX 6631
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MDPmap單晶和多晶硅片壽命測量儀PX 3564
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半導體靜電吸附盤清潔晶圓PX 0
Omega/Theta XRD Mapping面掃功能儀PX 3564
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Omega/Theta - 搖擺曲線測量儀PX 3564
ST-FBSOA_X晶體管正向偏置安全工作區PX 0
信號源分析儀PX 1560
微波網絡分析儀PX 1560
器件電流波形分析儀PX 1560
精密型 IV 分析儀PX 1560
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動態功率器件分析儀/雙脈沖測試儀PX 1560
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日本ULVAC愛發科半導體間自然氧化蝕刻設備
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臺式雙面電池PID測試儀
弗萊貝格 便攜式現場PID測試儀(PIDcheck)
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