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Evactron® 25掃描電鏡清洗儀Evactron® 25 De-ContaminatorPX 2509
SU8010日立新型高分辨場發射掃描電鏡SU8000系列PX 2635
西克(SICK)安全激光掃描器 德國施克S300系列PX 4246
NANOS掃描電鏡能譜一體機PX 3286
NANOS分析型臺式掃描電子顯微鏡PX 3286
NANOS臺式掃描電鏡PX 3286
JSM-IT700HR日本JEOL 熱場發射掃描電子顯微鏡PX 2939
JSM-IT800日本JEOL 熱場發射掃描電子顯微鏡PX 2939
ZEM15C臺式掃描電鏡PX 3845
SU3800SU3800鎢燈絲掃描電鏡PX 3254
TM4000日立新型臺式掃描電鏡PX 3254
IM4000日立高新離子研磨裝置PX 3254
FlexSEM 1000鎢燈絲掃描電鏡PX 3254
SU3500日立掃描電子顯微鏡PX 3254
SU8010日立掃描電子顯微鏡PX 3254
CEM3000國產電鏡掃描儀器品牌PX 6293
ZEM系列臺式掃描電鏡-原位拉伸一體機PX 3845
ZEM系列臺式掃描電鏡-能譜一體機PX 3845
ZEM Ultra場發射臺式掃描電鏡PX 3845
賽可SNE-Alpha臺式掃描電鏡PX 5600
SNE-Alpha賽可(SEC)超高分辨率臺式掃描電鏡PX 5600
澤攸ZEM15原位拉伸-掃描電鏡PX 3845
SNE-4500M Plus賽可高分辨率(5nm)臺式電鏡PX 5600
澤攸ZEM15臺式掃描電鏡能譜一體機PX 3845
賽可(SEC)SNE-3200M臺式掃描電鏡PX 5600
澤攸ZEM20臺式掃描電子顯微鏡PX 3845
賽可(SEC)SNE-4500M Plus臺式掃描電鏡PX 5600
澤攸ZEM18臺式掃描電子顯微鏡PX 3845
澤攸ZEM15臺式掃描電子顯微鏡PX 3845
PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量PX 3845
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量PX 3845
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量PX 3845
PicoFemto掃描電鏡原位氣氛加熱環境測量PX 3845
ZEM15原位拉伸-掃描電鏡PX 3845
地質薄片自動顯微掃描系統PX 3845
蔡司雙束電鏡Crossbeam系列(FIB-SEM)PX 3845
蔡司 GeminiSEM系列場發射掃描電子顯微鏡PX 3845
蔡司 EVO系列掃描電子顯微鏡PX 3845
蔡司 Sigma系列場發射掃描電子顯微鏡PX 3845
PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量系統PX 3845
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