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化工儀器網>產品展廳>半導體行業專用儀器>工藝測量和檢測設備>四探針測試儀> 襯底電阻率方阻測試儀

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襯底電阻率方阻測試儀

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公司成立于2021年,是一家注冊在蘇州、具備技術的非接觸式半導體檢測分析設備制造商。公司集研發、設計、制造、銷售于一體,主要攻克國外壟斷技術,替代進口產品,使半導體材料測試設備國產化。

主要產品:非接觸式無損方塊電阻測試儀、晶圓方阻測試儀、方阻測試儀、硅片電阻率測試儀、渦流法高低電阻率分析儀、晶錠電阻率分析儀、渦流法電阻率探頭和PN探頭測試儀、遷移率(霍爾)測試儀、少子壽命測試儀,晶圓、硅片厚度測試儀、表面光電壓儀JPV\SPV、汞CV、ECV。碳化硅、硅片、氮化鎵、襯底和外延廠商提供測試和解決方案

憑借*的技術和豐富的產品設計經驗申請各項知識產權20余項,已發展成為中國大陸少數具有一定國際競爭力的半導體專用設備提供商,產品得到眾多國內外主流半導體廠商的認可,并取得良好的市場口碑。





晶圓電阻率測試儀,硅片電阻率測試儀,渦流法低電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,遷移率測試儀,少子壽命測試儀

價格區間 面議 應用領域 電子,電氣,綜合
自動化度 半自動

襯底電阻率方阻測試儀相關介紹:

襯底的定義

1.襯底的物理與化學性質

襯底,或稱基片(substrate),是指在半導體器件制造過程中用來支持其他材料或結構的底層材料。襯底的物理性質包括其晶體結構、機械強度、熱導率、膨脹系數等,而化學性質則涵蓋其純度、表面化學穩定性、化學反應活性等。常見的襯底材料如硅(Si)、砷化鎵(GaAs)、碳化硅(SiC)等,因其物理與化學性質而被廣泛應用。

2.襯底的作用與功能

在半導體制造中,襯底起到至關重要的支撐作用。首先,襯底為后續的材料沉積和器件制作提供了一個平整且穩定的基礎,其次,襯底材料的選擇直接影響器件的性能和制造成本。此外,襯底還需具備良好的機械強度和熱導率,以支持器件在高功率和高溫條件下穩定運行。

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