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化工儀器網>產品展廳>半導體行業專用儀器>工藝測量和檢測設備>其它晶圓缺陷檢測設備> 氧化鎵電阻率方阻測試儀

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氧化鎵電阻率方阻測試儀

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公司成立于2021年,是一家注冊在蘇州、具備技術的非接觸式半導體檢測分析設備制造商。公司集研發、設計、制造、銷售于一體,主要攻克國外壟斷技術,替代進口產品,使半導體材料測試設備國產化。

主要產品:非接觸式無損方塊電阻測試儀、晶圓方阻測試儀、方阻測試儀、硅片電阻率測試儀、渦流法高低電阻率分析儀、晶錠電阻率分析儀、渦流法電阻率探頭和PN探頭測試儀、遷移率(霍爾)測試儀、少子壽命測試儀,晶圓、硅片厚度測試儀、表面光電壓儀JPV\SPV、汞CV、ECV。碳化硅、硅片、氮化鎵、襯底和外延廠商提供測試和解決方案

憑借*的技術和豐富的產品設計經驗申請各項知識產權20余項,已發展成為中國大陸少數具有一定國際競爭力的半導體專用設備提供商,產品得到眾多國內外主流半導體廠商的認可,并取得良好的市場口碑。





晶圓電阻率測試儀,硅片電阻率測試儀,渦流法低電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,遷移率測試儀,少子壽命測試儀

氧化鎵是一種無機化合物,化學式為Ga2O3。別名三氧化二鎵,是一種寬禁帶半導體,Eg=4.9eV,其導電性能和發光特性長期以來一直引起人們的注意。Ga2O3是一種透明的氧化物半導體材料,在光電子器件方面有廣闊的應用前景 ,被用作于Ga基半導體材料的絕緣層,以及紫外線濾光片。它還可以用作O2化學探測器,

Ga2O3 有五種同分異構體:α,β,γ,δ,ε,其中是β-異構體,當加熱至1000℃以上或水熱條件(即濕法)加熱至300℃以上時,所有其他的異構體都被轉換為β-異構體。可采用各自不同的方法制得各種純的異構體。
金屬鎵在空氣中加熱至420~440℃;焙燒硝酸鹽使之分解或加熱氫氧化鎵至500℃等都可制得α-Ga2O3
快速加熱氫氧化物凝膠至400~500℃可值得γ-Ga2O3,γ-Ga2O3具有缺陷的尖晶石結構。
在250℃加熱硝酸鎵然后在約200℃浸潰12小時,可制得δ-Ga2O3,它類似于In2O3、Tl2O3、Mn2O3和Ln2O3C-結構。
在550℃短暫加熱(約30分鐘)δ-Ga2O3可制得ε-Ga2O3
將硝酸鹽、醋酸鹽草酸鹽或其他鎵的化合物以及Ga2O3的任意其他異構體加熱至1000℃以上均可分解或轉化為β-Ga2O3





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