美國(guó)Cascade探針臺(tái)

美國(guó)Cascade Microtech是為半導(dǎo)體集成電路、芯片電子測(cè)量及測(cè)試提供*晶圓探測(cè)解決方案并且集設(shè)計(jì)、開發(fā)及制造于一體的*。通過使用Cascade革命性的探針和探針臺(tái)，設(shè)計(jì)工程師們可在這些集成電路被切割和封裝之前進(jìn)行實(shí)質(zhì)性的分析和晶圓上測(cè)試。這使研發(fā)時(shí)間和新芯片開發(fā)的巨大成本都減少了一半，這一革新震撼了高速半導(dǎo)體工業(yè)并且不可避免的*改變了整個(gè)行業(yè)。

Cascade Microtech EP6平臺(tái)介紹：

       EP6測(cè)量平臺(tái)是一款結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、高精確度、多功能、及高性價(jià)比的150mm基準(zhǔn)的探針臺(tái)，解決了一系列的測(cè)量難題。該探針臺(tái)采用了模塊化設(shè)計(jì)，提供了眾多的配置，旨在滿足諸如單切晶片至 150mm 晶圓、模塊、印刷電路板組件和微流體芯片等多種器件的精密電測(cè)量的需要。EP6可提供三種預(yù)配置的探針臺(tái)，均針對(duì)用戶的應(yīng)用及預(yù)算而優(yōu)化。用戶可以通過確定自己當(dāng)前需要的 EP6 模塊來設(shè)計(jì)*的探針臺(tái)，或?qū)ψ约含F(xiàn)用的 EP6 進(jìn)行升級(jí)以滿足未來的測(cè)量需求。能夠提供：I-V、C-V、FA、DWC等測(cè)試。

Cascade Microtech 提供了眾多的附件，用于針對(duì)特定的測(cè)量或應(yīng)用要求來配置您的 EP6 測(cè)量平臺(tái)。同時(shí)還能客戶需求提供其他系列探針測(cè)試平臺(tái)。