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耐壓測試與絕緣阻抗測試之間有什么不同呢?

來源:蘇州裕登電子科技有限公司   2016年05月04日 11:33  

絕緣阻抗(IR)測試是一種定性測試,提供絕緣系統的相對質量的一個表示。測試時通常用500V或1000V的DC 電壓進行,結果用兆歐電阻(MΩ)來度量。


 

耐壓測試(Hi-Pot)測試則是一種定量測試,同樣也給DUT施加高壓,但所加電壓比絕緣阻抗(IR)測試的高;而且視不同要求可以在AC或DC電壓下進行。結果則用毫安(mA)或微安(uA)來度量。

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