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GJ03-802光子相關納米粒度儀的技術資料

來源:白山市玖久儀器儀表有限公司   2016年03月07日 09:43  

GJ03-802光子相關納米粒度儀的技術資料

GJ03-802光子相關納米粒度儀是玖久儀器公司向您推薦的新一代粒度儀

儀器特點:

1.先進的測試原理 

該儀器采用動態光散射原理,其測試方法具有不破壞、不干擾納米顆粒體系原有狀態的特點,從而保證了測試結果的真實性和有效性;

2.高靈敏度與信噪比 

核心部件采用我公司自主研制CR256數字相關器,它實時完成動態散射光強的采集和自相關函數運算,從而有效地反映不同大小顆粒的動態光 散射信息,為測試結果的準確度奠定基礎;

3.穩定的光路系統 

采用光纖技術搭建而成的光路系統,使光子相關譜探測系統不僅體積小,而且具有很強的抗干擾能力,從而保證了測試的穩定性;

4.高精度恒溫控制系統 

采用半導體溫控技術,溫控精度高達±0.2℃,使樣品在整個測試過程中始終處于恒溫狀態,避免溫度變化而引起液體黏度及布朗運動速度變化導致的測試偏差,保證測試結果準確度及穩定性。

技術參數

執行標準

GB/T 19627-2005/ISO 13321:1996

GB/T 29022-2012/ISO 22412:2008

測試范圍1 ~ 10000nm(與樣品有關)

準確度< 1%(標準樣品平均粒徑)

重復性< 1%(標準樣品平均粒徑)

測試濃度0.1mg/ml ~ 100mg/ml(與樣品有關)

激光半導體激光器,λ= 532nm, P=30mW

探測器光電倍增管(PMT)

散射角90o

樣品池10mm×10mm×40mm, 1 ~ 4mL

測試溫度5 ~ 40 ℃

溫控精度±0.2 ℃

測試速度< 5Min

體積480mm×270mm×170mm

重量12Kg

數字相關器

規格型號CR256

自相關通道256

基線通道4

單位延遲時間100ns ~ 10ms

 

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