【干貨】離子束切割納米碳化鎢粉末

2015-03-11 徠卡顯微系統(tǒng) 徠卡顯微系統(tǒng)徠卡顯微系統(tǒng)  

號(hào) Leica-Microsystems

功能介紹 徠卡顯微系統(tǒng)是顯微鏡與科學(xué)儀器的，提供德國(guó)徠卡160余年始終如一的制造工藝和專業(yè)的售前售后服務(wù)，為您度身定制顯微解決方案。關(guān)注我們，科學(xué)界動(dòng)向、業(yè)內(nèi)研討會(huì)和產(chǎn)品*等您徠發(fā)現(xiàn)。售前：。

納米碳化鎢粉是應(yīng)用于生產(chǎn)硬質(zhì)合金的主要原材料之一。使用Leica EM TIC 3X 三離子束切割儀制備納米碳化鎢粉末的截面，觀察粉末顆粒內(nèi)部微觀形貌。

用離子束切割方式制備沒有應(yīng)力形變的粉末截面樣品，可以觀察到內(nèi)部孔洞和粉末的團(tuán)聚結(jié)構(gòu)。實(shí)驗(yàn)*步是將要切割的粉末包埋，以粒度200nm左右的碳化鎢粉末為例，包埋方式可以采用樹脂包埋，也可以將樣品混合在導(dǎo)電碳膠中。

包埋后的粉末樣品形貌如下：

SEM圖像，放大倍率1萬(wàn)倍

SEM圖像，放大倍率3萬(wàn)倍

本次實(shí)驗(yàn)用MBOND610離子減薄樹脂包埋碳化鎢粉末樣品，固化后將樹脂切成小片，然后使用離子束連粉末和樹脂一起切割薄片截面。

• 團(tuán)聚的粉末顆粒內(nèi)部形貌

SEM圖像，放大倍率1萬(wàn)倍

• 粉末顆粒中存在數(shù)十納米的孔洞

SEM圖像，放大倍率3萬(wàn)倍

• 大顆粒包裹小顆粒

SEM圖像，放大倍率2萬(wàn)倍

SEM圖像，放大倍率3萬(wàn)倍

相關(guān)產(chǎn)品

• 徠卡EM TIC 3X三離子束切割儀

更多Leica EM TIC 3X相關(guān)信息

請(qǐng)點(diǎn)擊底部閱讀原文

<:SECTION style="WHITE-SPACE: normal" class=135editor>

至真圖片 制樣為先

徠卡完備方案，讓結(jié)果超乎您想象！