正置顯微鏡是zui常見的光學(xué)顯微鏡之一，它的結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,操作更方便,容易找到關(guān)心區(qū)域,而且光路較短,成像會(huì)更好,但由于試樣觀察面要盡量平行與臺(tái)面,所以制樣通常要兩面磨平行，即正地面需是是平的。正置顯微鏡的被檢物體是放在載物臺(tái)上，物鏡下方。光源從下方燈室中的燈泡發(fā)出，進(jìn)入聚光鏡，zui后通過被檢物體進(jìn)入物鏡。也成為正立顯微鏡、常規(guī)顯微鏡。

金相顯微鏡是將光學(xué)顯微鏡技術(shù)、光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、計(jì)算機(jī)圖像處理技術(shù)地結(jié)合在一起而開發(fā)研制成的高科技產(chǎn)品，可以在計(jì)算機(jī)上很方便地觀察金相圖像，從而對(duì)金相圖譜進(jìn)行分析，評(píng)級(jí)等以及對(duì)圖片進(jìn)行輸出、打印。 *，合金的成分、熱處理工藝、冷熱加工工藝直接影響金屬材料的內(nèi)部組織、結(jié)構(gòu)的變化，從而使機(jī)件的機(jī)械性能發(fā)生變化。因此用金相顯微鏡來觀察檢驗(yàn)分析金屬內(nèi)部的組織結(jié)構(gòu)是工業(yè)生產(chǎn)中的一種重要手段 。

在使用相差顯微鏡時(shí)，應(yīng)注意細(xì)心謹(jǐn)慎。使用相差顯微鏡過程中常出現(xiàn)幾個(gè)問題：

（1）相位倒轉(zhuǎn) 當(dāng)n’<n或n’>n時(shí)得到象的明暗反差正好相反，稱為相位倒轉(zhuǎn)。當(dāng)相位差δ=0時(shí)是無法識(shí)別的，隨著δ的增大反差變大，當(dāng)δ繼續(xù)增大到某一值后會(huì)出現(xiàn)相位倒轉(zhuǎn)。用90%高吸光值（高反差）物鏡時(shí)，這個(gè)轉(zhuǎn)變值約為0.55λ，用70%標(biāo)準(zhǔn)吸光值的物鏡時(shí)約為0.33λ。較高吸光值的物鏡應(yīng)該用于分辨較小的光程差。

（2）暈輪和漸暗效應(yīng) 在相差顯微鏡成象過程中，某一結(jié)構(gòu)由于相位的延遲而變暗時(shí)，并不是光的損失，而是光在象平面上重新分配的結(jié)果。因此在黑暗區(qū)域明顯消失的光會(huì)在較暗物體的周圍出現(xiàn)一個(gè)明亮的暈輪。這是相差顯微鏡的缺點(diǎn)，它妨礙了精細(xì)結(jié)構(gòu)的觀察，當(dāng)環(huán)狀光闌很窄時(shí)暈輪現(xiàn)象更為嚴(yán)重。相差顯微鏡的另一個(gè)現(xiàn)象是漸暗效應(yīng)，指相差觀察相位延遲相同的較大區(qū)域時(shí)，該區(qū)域邊緣會(huì)出現(xiàn)反差下降。

（3）樣品厚度的影響 當(dāng)進(jìn)行相差觀察時(shí)，樣品的厚度應(yīng)該為5μm或者更薄，當(dāng)采用較厚的樣品時(shí)，樣品的上層是很清楚的，深層則會(huì)模糊不清并且會(huì)產(chǎn)生相位移干擾及光的散射干擾。

（4）蓋玻片和載玻片的影響樣品一定要蓋上蓋上蓋玻片，否則環(huán)狀光闌的亮環(huán)和相板的暗環(huán)很難重合。相差觀察對(duì)載玻片和蓋玻片的玻璃質(zhì)量也有較高的要求，當(dāng)有劃痕，厚薄不均或凹凸不平時(shí)會(huì)產(chǎn)生亮環(huán)歪斜及相位干擾。另外玻片過厚或過薄時(shí)會(huì)使環(huán)狀光闌亮環(huán)變大或變小。

使用相差顯微鏡應(yīng)該注意以上幾個(gè)問題，然后小心解決。