涂層測厚儀使用方法  

1.開機:先取開探頭線插在儀器上，然后按動“ON/OFF”鍵（探頭與鐵基或磁場的距離保持10cm以上）開機聽到蜂鳴聲后儀器進入測量狀態，可以直接進行測量。如果測量數據偏差較大,可以進行鐵基校準后再測量。

測量時要注意測量指示,箭頭消失后才能再次測量，    2.校準:本儀器分為系統校準、兩點校準和鐵基校準三種。在一般情況下只需進行鐵基校準即可進行準確測量。當儀器鐵基與被測件鐵基的磁性和表面粗糙度差別較大時,可以進行系統校準以保證測量度。

（1） 鐵基校準

儀器標準基體金屬的磁性和表面粗糙度應當與待測試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。為了保證測量的性,可以在測量測試件之前*行鐵基校準。

校準方法:儀器開機后，先將探頭放在被測試件的裸露基體上進行測量,測量兩次，測完第二次按住探頭不動按下"CAL"鍵，伴隨著兩聲蜂鳴即可完成鐵基的校準。如果沒發出兩聲蜂鳴說明操作有誤，重新按以上步驟操作直至發出兩聲蜂鳴即可。

（2） 兩點校準

在測量過程當中，如果發現個別測量值偏差較大可以通過兩點校準方法進行調整。

校準方法：把一個已知厚度的被測試件作為標準樣片進行測量，如果顯示值與真實值不一致，可以通過"▲"、"▼"鍵進行加1或減1操作。按住"▲"、"▼"鍵不放可以進行連續加、減，直到顯示值和真實值相同為止。校準完成后即可進行正常測量。

注意:兩點校準時選用的被測試件厚度不要與系統校準時的五個樣片值接近，否則操作無效。

    當第五個樣片校準完成后屏幕顯示"0000''，進入開機界面如圖A，儀器此時即完成了系統校準過程。以后就可以對被測件直接進行測量。

    注意：這五個樣片可以使用提供的標準片也可以使用已知厚度的樣片作為標準片。樣片校準時要按照由小到大的順序進行，相鄰樣片間應該有一定的差值。

     3.涂層測厚儀在測量狀態下存儲

在測量狀態下屏幕顯示為測量值,如需存儲按動儀器上面的“ENTER”鍵,存儲地址自動加1。例如當前地址為0004,測量厚度值為1054um,存儲后地址變為0005顯示界面如圖示。

屏顯結果只能被存儲一次,如需另外存儲可重新測量。如果要從初始地址重新開始存儲可以在存儲讀出菜單下長按"ENTER"鍵,儲存序列號就會回歸至初始地址0001,即可開始重新儲存。

4．設置菜單使用：

無論在什么狀態下按住＂MENU＂鍵,儀器顯示四項功能菜單為：存儲讀出------打印-----通訊-----統計，按"▲▼"鍵可調節箭頭的位置來選擇不同的功能。（如圖示）例如要設置＂存儲讀出＂功能，在箭頭指向"存儲讀出"標志時按住"ENTER"鍵,儀器就進入存儲讀出狀態。

    （1）、存儲讀出

     本儀器可以連續存入254個測量數據，在進入存儲讀出菜單后即可看到原來存儲的數據。通過"▲▼"鍵可以把不同存儲單元中的內容顯示出來。

（2）、打印

首先把打印機準備好,把打印機插好連線,裝入打印紙,接上電源。此時紅燈綠燈都亮,若是綠燈沒有亮,則按動打印機上的"SEL"鍵,綠燈亮起說明打印機已準備好。把打印機連線另一頭三針插頭根據套紅管插針插入儀器帶紅點一側的方向,插入儀器"PCI"接口,儀器在"打印"功能狀態時按"▲"鍵,儀器開始打印，長按"▼"鍵結束打印。

（3）、通訊

    打開通訊軟件,把軟件上的"打開串口"打開,其它設置都是默認設置。儀器在"通訊"功能狀態時按"▲"鍵,儀器開始通訊，長按"▼"鍵結束通訊。

（4）、統計

  為了有效的處理分析測量數據,本儀器帶有數據統計功能。進入統計菜單后,會顯示測量數據的zui大值、zui小值和平均值。在測量狀態下屏幕顯示為測量值,儀器對測量值進行自動存儲。屏幕上方"S"后面顯示的數字是進入統計的數據個數，為保證統計數據的有效性,在測量少于8次時不顯示平均值，超過8次只統計zui后測量的8個數據。

在測量過程當中，如果發現有個別數據的偏差明顯較大，可以拿開探頭在非測量狀態下按住"CAL"鍵來刪除，以免該數據進入數據統計運算。此時屏幕出現“0000µm”，即可重新測量數據。在統計狀態下直接測量數據就能返回到測量狀態。

四、涂層測厚儀注意事項：

（１）測量曲面及圓柱體，曲率半徑較小時，應在未涂覆的工件上校準，以保證測量精度。

（２）在曲率半徑較小的凹面內測量時，應重新校正。

五：影響測量的若干因素

基體金屬磁化

磁性法測量受基體金屬磁性變化的影響（在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的）。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應使用與鍍件金屬具有相同性質的鐵基片上對儀器進行校對。