隨著能源轉型加速和半導體技術的飛速發展，光伏電池及高效半導體器件的研發對材料性能測試提出了更高要求。電致發光（Electroluminescence, EL）量子效率（Quantum Efficiency, QE）作為評估材料光電轉換效率的核心指標，直接關系到太陽能池、LED、激光器等器件的性能優化與產業化進程。然而，傳統 EL 測量設備普遍存在靈敏度不足、光譜范圍受限、測試速度慢等問題，難以滿足新型材料（如鈣鈦礦、InGaN/GaN 異質結）的高精度分析需求。

東譜科技作為國內光電測試儀器領域的企業，推出全新一代 HiYield-EL 電致發光量子效率測量儀，以創新的光學設計、智能化分析算法和全光譜覆蓋能力，為光伏、半導體材料研發提供高效、精準的測試解決方案，助力科研與產業突破技術瓶頸。

（一）原理

電致發光（Electroluminescence，簡稱 EL）是一種將電能直接轉換為光能的物理現象，其原理基于半導體材料的特性和電子與空穴的復合過程。

技術特點

1、HiYield - EL支持 300–1700nm 寬光譜范圍，兼容硅基、鈣鈦礦、III-V 族化合物（如 GaN、InGaN）等多種材料體系。采用高靈敏度制冷型探測器，顯著提升近紅外波段（800–1700nm）的 EL 信號檢測能力。

2、集成自動化電流 - 電壓（I-V）控制模塊，支持 0.1mA–1A 寬范圍電流輸入，適配實驗室及產線級測試需求。配備 AI 輔助分析軟件，一鍵生成 EL 光譜、外量子效率（EQE）、內量子效率（IQE）曲線及器件能帶結構分析報告。模塊化光路結構，支持快速更換濾光片、光柵等組件，適應多場景測試需求。

3、測試參數全面，可以得到量子效率 EQE。支持氣體氛圍、器件不封裝轉移測試、手套箱等環境的測試。全面參數的器件老化測試。可測量外量子效率（EQE）、電流效率、功率效率等。能夠獲取電壓（V）、電流（I）、電流密度（J）、電功率（W）、電功率密度等參數。還可得到光譜功率分布、輻射通量、光通量、光視效能、峰值波長、主波長等數據。

可分析 CIE 色度坐標、相關色溫（CCT）、MK - 1（mred）、顯色指數（CRI）、RGB 顏色值等。能夠生成電壓 V - 時間曲線、電流密度 J - 時間曲線、電流效率 LE - 時間曲線、功率效率 PE 時間曲線、色度 - 時間曲線等。