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超弱近紅外區域的測量 分光輻射計 SR-NIR

來源:玉崎科學儀器(深圳)有限公司   2025年03月05日 09:03  

關于本產品

■ 概述

近年來,特別是在顯示器和照明市場,對“近紅外”測量的需求越來越大。 此外,沒有能夠輕松準確地測量這一點的測量儀器。 在這種情況下,我們以 SR 系列光譜輻射計中培養的技術為基礎開發了“近紅外光譜輻射計 SR-NIR”。本產品可與 SR 系列光譜輻射儀結合使用,以測量 380 nm ~ 1030 nm 的光譜輻射度。

■ 特點

?可以測量從 FPD 發出微弱光的近紅外區域。?高精度測量近紅外區域 (600~1,030nm) 的光譜分布?與我們的 SR 系列分光輻射計結合使用,可以在可見光 ~ 近紅外 (380 ~ 1030 nm) 范圍內進行光譜分布測量。

■ 主要用途

?在近紅外區域觀察各種 FPD 的輸出?觀察 Ne 和 Ar 的發射線輸出?光學薄膜等的近紅外透射特性的評估?其他光源的近紅外光譜測量


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