Bruker X射線熒光光譜儀：精準分析，開啟材料科學新視野

布魯克（Bruker）X射線熒光光譜儀結合高精度技術與靈敏度，為材料科學、工業質量控制、科研實驗等領域提供了強大的元素分析工具。這款設備集成多項先進功能，以高效、可靠的性能滿足多樣化應用需求，是現代實驗室和工業應用的重要設備之一。

設備亮點

1. 高靈敏度與精準度

• 采用 HighSense 光管與分光晶體 技術，覆蓋從鈹（Be）到镅（Am）的全元素分析范圍。

• 檢出限低至0.2 ppm，可應對極微量樣品分析，確保數據精準可靠。

2. 靈活的樣品適配性

• 支持固體、液體、粉末和小顆粒樣品的直接分析，無需復雜的樣品制備。

• 多種面罩與準直器選擇，光斑尺寸最小達300 µm，適用于微區分析和面掃描。

3. 快速高效的操作體驗

• 自動化樣品處理系統，結合 EasyLoad 設計，減少操作時間，提高樣品周轉率。

• 用戶界面采用直觀的 TouchControl 系統，操作簡單，即使非專業人員也能輕松使用。

4. 低維護與長壽命設計

• SampleCare 技術 防止粉塵和樣品污染設備內部組件，延長設備使用壽命。

• 氦氣節能模式減少運行成本，保持長期高效運作。

關鍵技術特點

1. HighSense 技術提升分析性能

• 分光晶體優化：18種分光晶體適配不同元素，提高檢測強度和精密度。

• 動態計數技術：DynaMatch 技術實現計數率高達13 Mcps，為高通量分析提供保障。

• 光管增強：28 µm 鈹窗設計，輕元素檢測強度提升35%。

2. XRF2 微區分析功能

• 面掃描工具結合高靈敏度光路，支持輕重元素的高分辨率分析。

• 小光斑（300 µm）和高步長精度（100 µm）讓微區分布研究更加精確。

3. 高效樣品進樣與分析

• 自動識別樣品類型（固體或液體），避免操作失誤。

• 進樣托盤配置靈活，支持單樣品或批量樣品測量，適合高通量需求。

4. 可靠的數據管理能力

• 數據自動記錄與存儲，確保分析結果的可追溯性。

• 靈活的報告輸出功能，支持多種格式的數據導出與打印。

適用領域與優勢

1. 工業質量控制

• 支持水泥、礦物、金屬合金等材料的主要成分和微量元素檢測。

• 滿足ISO、ASTM等多種國際標準要求。

2. 科研與學術研究

• 用于材料科學、地質學、古生物學的深度分析。

• 微區掃描功能特別適合缺陷分析和元素分布研究。

3. 環保與能源行業

• 聚合物中重金屬與微量元素檢測。

• 在石油化工領域，提供潤滑油、水和聚合物的精確分析。

技術規格

• 檢測范圍：鈹（Be）至镅（Am）

• 光斑尺寸：最小300 µm

• 計數率：高達13 Mcps

• 操作界面：觸控式TouchControl

• 樣品處理：支持108位樣品托盤與自動化進樣

設備維護與操作建議

1. 環境要求

• 放置在無塵環境中，確保設備運行穩定。

• 避免濕度過高，以保護光管和分光晶體。

2. 定期維護

• 清潔粉塵收集器和真空封擋，避免污染光譜室。

• 檢查氦氣模式與耗材狀態，確保設備長期高效運行。

3. 安全操作

• 樣品進樣時遵循操作指引，避免液體泄漏或松散粉末污染設備。

• 數據存儲與分析權限管理需規范操作，保護實驗數據安全。

總結

布魯克 X射線熒光光譜儀以其優異的檢測性能、靈活的樣品適配性和低維護設計，成為工業與科學分析領域的可靠選擇。設備通過創新技術與高效操作結合，不僅提升了實驗效率，還顯著優化了分析結果的精度和可靠性。它是一款能夠應對未來需求、支持廣泛應用的多功能儀器。