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偏光顯微鏡是一種用于研究透明與不透明各向異性材料的光學顯微鏡，它利用光的偏振特性對具有雙折射性的物質進行研究鑒定。
偏光顯微鏡的基本原理是將自然光改變為偏振光進行鏡檢，以鑒別某一物質是單折射(各向同性)還是雙折射性(各向異性)。當光線通過雙折射體時，會形成兩種偏振光，其振動方向依物體的種類而有所不同。偏光顯微鏡利用這一特性，通過加上兩塊起偏作用的偏光鏡(即下偏光鏡和上偏光鏡)，將自然光轉化為偏振光，并觀察樣品在偏振光下的表現，從而判斷其是否具有雙折射性。
偏光顯微鏡具有多種功能，包括但不限于：
單偏光觀察：僅使用起偏器或檢偏器中的一個，觀察樣品在偏振光下的基本形態和顏色。
正交偏光觀察：將起偏器和檢偏器的透光軸置于正交位置，觀察樣品在正交偏光下的表現，如消光現象、干涉色等。
錐光觀察：使用特殊的光學元件(如錐光鏡)將光線聚焦成錐形光束，觀察樣品在錐光下的干涉圖樣，用于判斷樣品的晶體類型和取向。
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