HOLMARC MOKE LB215 是一種易于使用的基于磁光克爾效應（MOKE）激光的系統，它提供了一種獲取不同磁場和溫度下磁矩變化的便捷方法

。測量使用 408nm、532nm 和 650nm 二極管激光器。

該儀器采用了鎖相放大器技術，并使用光學調制器進行調制。樣品安裝在磁體中心，表面與磁場平行或垂直。提供的高磁場、可變間隙偶極電磁鐵

允許用戶以縱向或垂直的幾何形狀施加大磁場（10 毫米極間隙時約 20,000 高斯），以研究硬磁材料。HOLMARC MOKE LB215 隨附 ORMS 軟

件。它可以快速準確地管理數據收集和數據處理。

磁光克爾效應是一種研究磁化特性的成熟技術。該效應基于這樣一個事實：當光從磁性材料中反射出來時，光的偏振面會發生旋轉。MOKE 的物

理起源是磁性圓二色性效應：磁性材料中的交換和自旋軌道耦合導致左旋和右旋偏振光的吸收光譜不同。通過測量反射光束的偏振變化（通常稱為

克爾角θKerr）可以了解樣品的磁化狀態。

                                                                                         規格

  激光波長：405nm、532nm、650nm 二極管激光器

    光學旋轉靈敏度：0.009 度（克爾旋轉角）

    光學旋轉分辨率：0.018 度

    橢圓度測量：± 0.01 度

    光學旋轉測量范圍：± 90 度

    光斑尺寸：0.1 毫米（可變）

    電磁單元：PC 控制恒流操作

    最大磁場：20,000 高斯 @ 10 毫米極間隙

    最小磁場 磁場檢測：1 高斯

    磁場精確度：± 0.05

    冷卻器：5 ~ 25°C 冷卻水（用于冷卻電磁鐵）

    磁場檢測：基于霍爾探針（基于 PC 的磁場測量）

    磁場反饋 ：    霍爾元件

    樣品室選項：高溫/低溫樣品架

    樣品移動平臺：X、Y 和 Z 軸帶角度傾斜的定位器

    行程：X、Y 和 Z 軸（±5 毫米），定位分辨率為 10 微米

    軟件 ：    Spectra ORMS 軟件

MOKE 對于研究鐵磁和鐵磁性薄膜和材料尤為重要。在這種非破壞性的表面敏感技術中，偏振調制激光光在掃描磁場的作用下從磁性表面反射出來。由于光是一種電磁場，因此樣品的磁場與光相互作用，導致光的偏振和橢圓度發生非常微小的變化也就不足為奇了。我們通過近似交叉的偏振器測量光的強度變化，記錄強度與外加磁場的函數關系。

利用該儀器可以研究極光、縱光和橫光磁光克爾效應。縱向和極性配置被用作薄膜磁性表征的常規工具。專用的室溫裝置可快速獲取面內磁滯回線。這些磁滯回線提供了薄膜中磁性各向同性的信息，在多層情況下還提供了層間耦合的信息。在縱向克爾效應中，測量可獲得樣品表面平面磁矩排列的定性信息。使用此裝置還可以測量垂直于樣品表面的磁化分量。