本測試儀能測試或判斷封裝的可控硅和雙向可控硅的斷態漏電流、反向漏電流、門，觸發電流、門，觸發電壓、陰，門，漏電流、通態壓降、通態平均電流、維持電流等參數。
本測試儀具有人工測試和接分選機自動測試等測試方式。人工測試時，與測試盒相連，在測試狀態下，插入器件后，就開始測試，由人工根據顯示的分檔數進行分選；自動測試時，與分選機相連，由分選機輸出的“開始測試信號”控制，對器件進行測試，并把分檔結果送至分選機。
本測試儀內部預置可修改的方案，開機即可進行測試。用戶也能夠瀏覽并打印測試結果。本測試儀適合于生產廠家對封裝的可控硅和雙向可控硅進行批量測試，也適合于應用廠家的篩選測試。
指    標
測試分辨率
漏 電 流：0.1uA
觸發電流：0.1uA
觸發電壓：0.01V
通態平均電流：1mA
維持電流： 0.1mA
%項測試時間
測試斷態漏電流：≤20mS
測試反向漏電流：≤30mS
測試觸發電流：≤30mS
測試觸發電壓：≤20mS
測試陰，門，漏電流：≤30mS
測試通態壓降：≤30mS
測試通態平均電流：≤50mS
測試維持電流：≤50mS