在光學測量的浩瀚領域,一款較突出的儀器正掀起一場革新風暴,它就是 WPA - 200 相位差測試儀。
WPA - 200 相位差測試儀宛如一座光學測量的智慧燈塔。它采用先進的光子晶體技術,為高精度測量奠定了堅實基礎。測量速度之快令人驚嘆,僅需 3 秒,即可完成一次測量,極大地提高了工作效率,讓您無需漫長等待,快速獲取關鍵數據。
其測量范圍廣泛,可達 0 - 3500nm(可拓展至 10000nm),幾乎涵蓋了常見光學材料和元件的測量需求。而且,測量精度堪稱,重復精度小于 1nm(西格瑪),無論是在光學零件的精細檢測,還是對透明成型品的質量把控中,都能精準無誤地呈現相位差信息。
這款測試儀的數據呈現方式D具匠心,以二維分布圖像的形式將測量數據可視化。這不僅使您可以直觀地讀取數據,更能通過多種分析功能,如點、線、面、3D 的分析,深入探究樣品的相位差分布細節。這就像為您配備了一個光學顯微鏡,讓材料內部的奧秘清晰地展現在眼前。
在應用領域,WPA - 200 相位差測試儀更是展現出其強大的適應性。在光學零件檢測方面,對于鏡片、薄膜、導光板等,它能精準檢測相位差,確保產品質量,保障光學性能的優秀。在透明成型品檢測中,無論是車載透明零件還是食用品容器,都能被它敏銳洞察,及時發現應力等因素引起的相位差變化,保障使用安全。在透明樹脂材料、透明基板以及有機材料研究領域,它也是的得力助手,助力科研人員深入了解材料特性,推動科研此外,WPA - 200 不含旋轉光學濾片的機構,這一設計減少了儀器的維護成本和難度,讓儀器更加穩定可靠,如同一位忠實的伙伴,始終陪伴您在光學測量的道路上前行。
無論是光學研究機構、生產制造企業,還是質量檢測部門,WPA - 200 相位差測試儀都將成為您開啟光學測量新紀元的關鍵鑰匙,引的導您在光學領域探索更多未知,創造更多可能。