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晶圓襯底檢測粗糙度、平面度、臺階高度——優可測白光干涉儀案例

來源:板石智能科技(深圳)有限公司   2024年08月31日 10:19  

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從18世紀紅外線被發現,到19世紀紅外探測器的發明。至今,隨著工藝更新迭代,紅外探測器朝著多波段、大面陣、高分辨率、低成本量產快速發展。

今天,小優博士帶您探索紅外探測的奧秘。


一、紅外線是什么

紅外光是一種電磁波,波長范圍通常在0.75μm到1000μm之間。

它有較強的熱效應,輻射能力強,我們感受到陽光的溫暖,正是太陽紅外光的作用。

但是,由于紅外光是不可見光,我們無法通過肉眼直接觀察。

紅外光.png


二、紅外線探測的應用

在日常生活與工業生產中,經常利用紅外線的性質進行紅外線探測,可借助紅外探測器采集輻射能量,轉換成信號或圖像。其應用場景非常廣泛,主要運用在醫療、工業、安防、軍事、氣象等行業。


1、紅外探測+溫度:

例如:紅外體溫槍、紅外工業傳感器、化工廠泄露檢測等。

體溫槍.png

紅外體溫槍

工業紅外溫度傳感器.png

工業用溫度傳感器

泄露檢測.png

泄露檢測


2、紅外探測+相機:

例如:熱成像相機、夜視儀等。

熱成像相機.png

熱成像相機

夜視儀.png

夜視儀


3、紅外探測+跟蹤系統:

例如:跟蹤系統等。

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跟蹤系統


三、紅外探測芯片

紅外探測芯片是紅外探測器的核心單元,由于紅外探測器有特殊用途,紅外探測芯片長期受到國外的技術壟斷。經過數十年的發展,國產紅外芯片在研發和生產方面均取得顯著進展,已成功突破國外壟斷,基本實現國產化替代。

紅外探測器芯片.png

紅外探測器芯片


紅外探測芯片通常選擇銻化鎵(GaSb),銻化銦(InSb),碲鋅鎘(CdZnTe),碲化鎘汞(HgCdTe)等材料作為晶圓襯底,再通過蝕刻、鈍化、金屬化、封裝等一系列晶圓級封裝工藝流程制造而成。

晶圓襯底.png

晶圓襯底


在這一過程中,晶圓襯底的表面粗糙度影響感光性能分辨率/靈敏度蝕刻臺階高度影響電子傳輸效率平面度影響后期封裝良率。因此,需要對晶圓襯底的表面粗糙度、臺階高度以及整體平整度嚴格把控。




優可測白光干涉儀AM-7000系列:

高精度測量晶圓襯底的亞納米級粗糙度納米級臺階整體平面度;現已助力國內多家頭部紅外晶圓襯底/紅外芯片廠家,完成研發進展突破和生產工藝改善。

紅外芯片封面16比9.png


片尾.png


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