奧影科普 | 探測(cè)器像素分辨率能力測(cè)試:雙絲像質(zhì)計(jì)
在此前介紹空間分辨率的文章中我們?cè)破者^(guò),影響空間分辨率的主要因素有:射線源焦點(diǎn)尺寸、探測(cè)器孔徑(探元像素)尺寸、工業(yè)CT設(shè)備平臺(tái)的幾何放大倍數(shù)、重建算法等。射線源焦點(diǎn)尺寸通常使用JIMA 卡檢測(cè),而探測(cè)器的像素分辨能力檢測(cè)測(cè)試,則需要使用另一個(gè)工具——雙絲像質(zhì)計(jì)。
分辨率(力)指標(biāo)通常是以單位長(zhǎng)度上可分辨兩個(gè)相鄰細(xì)節(jié)間最小距離來(lái)測(cè)定。它受幾何不清晰度和固有不清晰度的綜合影響。幾何不清晰度與焦點(diǎn)尺寸和放大倍數(shù)密切相關(guān),當(dāng)焦點(diǎn)尺寸較小且放大倍數(shù)適當(dāng)時(shí),圖像中的細(xì)節(jié)能夠更為清晰地呈現(xiàn)。而固有不清晰度則主要由探測(cè)器的像素尺寸決定,像素尺寸越小,探測(cè)器捕捉到的圖像細(xì)節(jié)就越多,圖像的分辨率也相應(yīng)的越高。
一、什么是雙絲像質(zhì)計(jì)
二、雙絲像質(zhì)計(jì)的使用方法
在使用雙絲像質(zhì)計(jì)時(shí),應(yīng)將其置于被檢物體的源側(cè),并盡可能地靠近射線束軸線,以確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。其金屬絲與數(shù)字圖像的行或列傾斜角度應(yīng)為2°到5°。
使用雙絲像質(zhì)計(jì)評(píng)估數(shù)字圖像的質(zhì)量,通過(guò)調(diào)整系統(tǒng)到較優(yōu)圖像成像狀態(tài),掃描獲得DR圖像,包括調(diào)整系統(tǒng)的放大倍數(shù)和射線源的焦點(diǎn)尺寸到適合的狀態(tài)(保證穿透工件的同時(shí),確保圖像曝光充足),通過(guò)對(duì)DR圖像來(lái)評(píng)判細(xì)絲之間的干涉條紋不再清晰可見(jiàn),從而確定分辨率。
實(shí)際檢測(cè)區(qū)分絲對(duì)能否清晰,一般不是用肉眼直接再圖像上判定,而是利用數(shù)字射線設(shè)備自帶的符合標(biāo)準(zhǔn)的軟件進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量得到的首對(duì)雙峰調(diào)制度值小于20%的絲對(duì),其絲對(duì)尺寸則代表了探測(cè)器在一定放大倍數(shù)下數(shù)字圖像中可分辨的最小幾何尺寸。例如下圖這個(gè)案例中D12雙絲線對(duì)直徑即為該圖像的分辨力值。
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