傅立葉變換紅外光譜儀（FT-IR光譜儀）是一種用于分析樣品分子結構的儀器，其主要組成部分包括：

光源：

提供紅外輻射的光源。常見的光源包括白熾燈或者類似于石榴石的氮化硅（SiC）發射器。這些光源能夠產生廣譜的紅外輻射，覆蓋從近紅外到遠紅外的不同波長范圍。

干涉儀：

主要包括Michelson干涉儀，用于測量樣品產生的干涉圖樣。干涉儀中的光學元件包括分束鏡、移動反射鏡和固定反射鏡等，它們協同工作以創建干涉條件。

樣品室：

放置樣品的區域，通常設計為氣體密封室，以確保在光譜測量過程中能夠控制樣品的環境條件（如溫度、濕度等），以避免外部干擾。

檢測器：

用于檢測光譜數據的探測器。常見的檢測器包括液氮冷卻的氮化硅（DTGS）檢測器、焦平面陣列（FPAs）檢測器或者光電二極管（PbS或PbSe）檢測器。檢測器負責將樣品產生的光信號轉換成電信號，以供計算機進行處理和分析。

傅立葉變換處理系統：

將檢測器采集的干涉數據進行傅立葉變換，將干涉信號轉換成頻譜信息。這個系統包括傅立葉變換算法和數學處理單元，用于處理大量的干涉數據并生成紅外光譜圖譜。

計算機及軟件：

用于控制儀器操作、采集數據、進行傅立葉變換處理，并顯示和分析最終的紅外光譜圖譜。計算機上的專業軟件通常提供各種數據處理工具和光譜分析功能，使用戶能夠準確地解釋和理解樣品的紅外光譜特征。

配件和附件：

包括光學元件（如透鏡、反射鏡）、光學濾波器、樣品支持件（如樣品夾具、樣品盒）、氣體流動控制器等，用于優化和支持光譜儀的各項功能和性能。

綜上所述，FT-IR光譜儀通過精密的光學和電子組件，以及復雜的數據處理系統，能夠提供高分辨率和高靈敏度的紅外光譜分析，廣泛應用于化學、生物、材料科學等領域的分析和研究中。