BW-3010B 

晶體管光耦參數測試儀(光耦&光電傳感器雙功能版)

 用途： BW-3010B型光藕參數測試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器的功能和參數測試及參數”合格/不合格”(OK/NO)判斷測試。

BW-3010B產品介紹：

BW-3010B型光藕參數測試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器和光電傳感器的功能和參數測試及參數”合格/不合格”(OK/NO)判斷測試，BW-3010B為各種三極管型4腳光藕提供了輸入正向壓降（VF）和輸出反向耐(ICEO)、耐壓BVCEO、傳輸比(CTR)等 。中文軟件界面友好,簡化了系統的操作和編程,提供了快速的一次測試條件和測試參數的設定,測試條件及數據同步存入EEPROM中，測試條件可以任意設置，測試正向壓降和輸出電流可達1A，操作簡便，實用性強。廣泛應用與半導體電子行業、新能源行業、封裝測試、家電行業、科研教育等領域來料檢驗、產品選型等重要檢測設備之一。

產品電氣參數：

產品信息

產品型號：BW-3022A

產品名稱：晶體管光耦參數測試儀；

物理規格

主機尺寸：深 305*寬 280*高 120(mm)

主機重量：＜4.5Kg

主機顏色：白色系

電氣環境

主機功耗：＜75W

環境要求：-20℃～60℃（儲存）、5℃～50℃（工作）；

相對濕度：≯85%；

大氣壓力：86Kpa～106Kpa；

防護條件：無較大灰塵，腐蝕或爆炸性氣體，導電粉塵等；

電網要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；

工作時間：連續；

服務領域：

半導體生產企業、晶圓測試、封裝測試、電網、家電、新能源汽車、教育教學、軌道交通、功率模塊等光耦測試

應用場景： 

? 研發分析 :  根據測試數據進行功率器件研發設計階段的測試分析
?失效分析：失效測試分析，失效機理分析、 過程分析及改善依據
?選型配對：同類型器件參數對比分析、選型參數依據、一致性分析類比
? 來料檢驗：檢驗部/質量部（IQC）對出入庫器件進行抽檢/全檢，把控器件的良品率
?量產測試：可與機械手、掃碼槍、分選機、編帶機、探針臺等外部設備聯機測試，實現規?；?、自動化快速測試

?選型配對（在器件焊接至電路板之前進行全部測試，將測試數據比較一致的器件進行分類配對）

?檢驗篩選（研究所及電子廠的質量部（IQC）對入廠器件進行抽檢/全檢，把控器件的良品率）

產品特點：

?大屏幕液晶,中文操作界面,顯示直觀簡潔,操作方面簡單

?大容量EEPROM存儲器,儲存量可多達1000種設置型號數.

?全部可編程的DUT恒流源和電壓源.

?內置繼電器矩陣自動連接所需的測試電路,電壓/電流源和測試回路.

?高壓測試電流分辨率1uA,測試電壓可達1500V；

?重復”回路”式測試解決了元件發熱和間歇的問題；

?軟件自校準功能；

?自動測試測DUT短路、開路或誤接現象,如果發現,就立即停止測試；

?DUT的功能檢測通過LCD顯示出被測器件/DUT的類型，顯示測試結果是否合格,并有聲光提示；

?兩種工作模式：手動、自動測試模式。

BW-3010B主機和DUT的管腳對應關系

BW-3010B測試技術指標：

1、光電傳感器指標:

1.1輸入正向壓降(VF)

1.2反向電流(Ir)

1.3集電極電流(Ic)

1.4輸出導通壓降(VCE(sat))

1.5輸出漏電流(Iceo)

2、光電耦合器：

2.1 耐壓(VCEO)測試指標

2.2輸入正向壓降(VF)

2.3反向漏電流(ICEO)

2.4反向漏電流(IR)

2.5電流傳輸比(CTR)

2.6輸出導通壓降(VCE(sat))

2.7可分檔位總數：10檔。

BW-3010B測試定義與規范：

AKEC:表示引腳自左向右排列分別為 光耦的,A K E C極.

VF:IF: 表示測試光耦輸入正向VF壓降時的測試電流.

Vce:Bv:表示測試光耦輸出端耐壓BVCE時輸入的測試電壓.

Vce:Ir: 表示測試光耦輸出端耐壓BVCE時輸入的測試電流.

CTR:IF:表示測試光耦傳輸比時輸入端的測試電流。

CTR:Vce:表示測試光耦傳輸比時輸出端的測試電壓。

Vsat:IF:表示測試光耦輸出導通壓降時輸入端的測試電流。

Vsat:Ic:表示測試光耦輸出導通壓降時輸出端的測試電流。