產品關鍵詞：電致發光、IVL、電致發光量子效率、量子效率、亮度、前向亮度、角度分辨、器件壽命、外量子效率、發光量子產率測量系統、EQE、JV、IV、發光量子產率測量系統 、CIE、色溫、光譜功率分布 λ、輻射通量、光通量、相關色溫（CCT）、顯色指數（CRI）、電功率密度、積分球

電致發光量子效率測量儀HiYield-EL是東譜科技 HiOE 綜合發光特性測量平臺中的重要成員，用于對電致發光樣品的發光特性進行精確測量。HiYield 系統能夠以精準的檢測精度對電致發光器件進行縱深測量，得到全面的測量的電致發光效率參數（量子效率EQE等）以及相關的電學、輻射度學、光度學、色度學等參數；同時該系統集成了穩定性測試模塊，可以對器件的老化過程進行測試，且同時得到器件老化過程的全面信息，即涵蓋了上述發光效率、電學、輻射度學、光度學、色度學等全面參數（通常的老化測試儀，僅對電流、電壓和相對亮度進行測試），典型的包括電致發光效率/量子效率EQE、壽命測試、CIE、CRI、CCT、光譜響應、光譜功率分布、IV、JV、總光譜輻射通量、輻射通量、光通量、光效、光譜強度、峰值波長、FHWM等，廣泛應用于各種類型的電致發光器件測量。

HiYield-EL能夠以精準的檢測精度對電致發光器件進行縱深測量，得到全面的法測量的電致發光效率參數（外量子效率等）以及相關的電學、輻射度學、光度學、色度學等參數；集成了穩定性測試模塊，可以對器件的老化過程進行測試，且同時得到器件老化過程的全面信息，即涵蓋了上述發光效率、電學、輻射度學、光度學、色度學等全面參數（通常的老化測試儀，僅對電流、電壓和相對亮度進行測試）；由軟件控制測試過程，操作便捷，圖表和數據實時顯示；可快速、可靠對樣品的測試過程進行追蹤；具有實時測量、預測量、定制測量、掃描測量、時間依賴測量等豐富的測量模式。

HiYield-EL測試功能包括效率參數：發光效率/外量子效率EQE、電流效率、功率效率等；電學參數：電壓（V）、電流（I）、電流密度（J）、電功率（W）、電功率密度等；輻射度學：光譜功率分布、輻射通量、光通量、光視效能、峰值波長、主波長等； 色度學：CIE 色度坐標、相關色溫（CCT）、MK-1（mred）、顯色指數（CRI）、RGB 顏色值等；穩定性測試。

包含測量模式：電壓掃描（含分段掃描、循環掃描等）、電流掃描（含分段掃描、循環掃描等）、恒壓單點測量；、恒流單點測量、穩定性測量：不同老化時間下測量、電致發光、IVL、電致發光量子效率、量子效率、亮度、前向亮度、角度分辨、器件壽命、發光量子產率測量系統、JV、IV、發光量子產率測量系統等。