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X射線衍射儀(XRD)測試分析介紹

來源:蘇州福佰特儀器科技有限公司   2024年03月18日 16:43  


XRD的基本原理:

X射線與物質作用時,就其能量轉換而言,一般分為三部分,其中一部分被散射,一部分被吸收,一部分通過物質繼續沿原來方向傳播。散射的X射線與入射X射線波長相同時對晶體將產生衍射現象,即晶面間距產生的光程差等于波長的整數倍時。將每種晶體物質的衍射花樣與標準衍射花樣對比,利用三強峰原則,即可鑒定出樣品中存在的物相。

X-射線的產生是由在X-射線管(真空度10-4Pa)中有30-60KV的加速電子流,沖擊金屬(如純Cu或Mo)靶面產生。常用的射線是MoKα射線,包括Kα1和Kα2兩種射線(強度2:1),波長為71.073pm。

應用:主要用于物相分析、晶體結構分析、織構分析,晶胞參數、結晶度、晶型含量等的測定

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