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掃描電遷移率粒徑譜儀原理解析及其在顆粒物研究中的重要性

來源:帕剌斯儀器(上海)有限公司   2024年03月11日 18:05  
   掃描電遷移率粒徑譜儀是一種用于測量顆粒物粒徑分布的儀器,主要原理是利用顆粒物在電場中的遷移率差異,通過掃描電壓對顆粒物進行分類和計數(shù)。
 
  一、掃描電遷移率粒徑譜儀的基本工作原理如下:
  1.靜電聚焦:顆粒物樣品在鞘氣流的作用下進入電聚焦區(qū)域,顆粒物在電場中帶電。
 
  2.電遷移:帶電顆粒物在電場作用下發(fā)生遷移,顆粒物的遷移速度與顆粒物的大小和電荷數(shù)成正比。
 
  3.掃描電壓:SMPS通過改變電遷移區(qū)域的電壓,使得不同粒徑的顆粒物得以分離。
 
  4.顆粒物計數(shù):分離后的顆粒物通過光學探測器(如激光器和光電倍增管)進行計數(shù)和粒徑測量。
 掃描電遷移率粒徑譜儀
  二、在顆粒物研究中的重要性
  1.顆粒物粒徑分布研究:可以測量顆粒物的粒徑分布,有助于深入了解顆粒物的性質和來源,為顆粒物污染的源頭控制提供科學依據(jù)。
 
  2.顆粒物健康影響研究:可以測量顆粒物的粒徑和濃度,有助于研究顆粒物對人類健康的影響,為顆粒物污染的健康風險評估提供數(shù)據(jù)支持。
 
  3.顆粒物治理技術研究:可以用于顆粒物治理技術的性能評價,如除塵器、空氣凈化器等,為顆粒物污染的治理提供技術支持。
 
  4.顆粒物生成機制研究:可以觀測顆粒物的生成和生長過程,有助于研究顆粒物的生成機制和演化規(guī)律,為顆粒物污染的預防和控制提供理論支持。
 
  掃描電遷移率粒徑譜儀作為一種先進的顆粒物監(jiān)測技術,其原理是利用顆粒物在電場中的遷移率差異,通過掃描電壓對顆粒物進行分類和計數(shù)。在顆粒物研究領域中,SMPS具有測量顆粒物粒徑分布、健康影響研究、治理技術研究和生成機制研究等重要性。在實際應用中,應根據(jù)研究需求選擇適當?shù)念w粒物監(jiān)測技術,以確保顆粒物污染的有效控制和環(huán)境健康。

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