芯片作為工業的”糧食” ，一直是全球高科技產業的重要支柱。在科學界和產業界，大家一直在不斷嘗試利用各種二維材料，開發出兼具高性能和低功耗的新一代芯片。

二維(2D)層狀半導體，由于具備出色的柵極場穿透的原子厚度，可作為未來晶體管的通道材料。根據客戶要求，我們需要在開發新材料時，不斷地對樣品進行參數測定，使之達到理論設計值。測試參數包含介電常數、C-V曲線、I-V曲線、靜態電容。 

本次我們將通過TH2838A阻抗分析儀、TH1992B精密源/測量電源定制上位機軟件作為部分實驗設備用于參數測定。

解決方案

材料介電常數分析

介電常數描述的是材料與電場之間的相互作用，TH2838A系列阻抗分析儀為材料研究和開發提供了強有力的工具，配合專用材料測試夾具TH26077以及上位機軟件可方便、精確的測量材料在不同頻率下的介電常數。

I-V曲線測試

對功率半導體器件進行靜態測試，主要是為了解功率器件的性能。TH199X系列精密源/測量單元，可輸出高達±210V直流電壓、±3A直流電流以及±10.5A脈沖電流、最小10fA/100nV的電源和測量分辨率，并內置了二極管、三極管、MOS管以及IGBT等器件的I/V曲線掃描功能，無需連接上位機即可完成IV功能測試。

C-V曲線測試

C-V特性曲線是用來測量半導體材料和器件的一種方法，TH2838A+TH1992B的組合方案，也可提供高精度的C-V曲線分析。

在瞬息萬變的時代中，我們深知一個事實：優秀的解決方案能有效地解決您的問題。作為專業的電子測量測試綜合解決方案提供商，我們同惠將繼續根據大家的不同需求，確定有針對性且合理的技術解決方案。