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天平的歷史

來源:深圳華恒儀器有限公司   2011年12月07日 09:27  

天平 (日本):日本圣武天皇的年號。

有狹義和廣義之分。

狹義的天平專指雙盤等臂機械天平,是利用等臂杠桿平衡原理,將被測物與相應砝碼比較衡量,從而確定被測物質量的一種衡器。

廣義的天平則包括雙盤等臂機械天平、單盤不等臂機械天平和電子天平3類。
 
   分析天平是用于化學分析和物質衡量的高準確度天平。在大多數情況下,這類天平的zui小分度值都小于zui大稱量的 10-5。

分析天平可按衡量范圍和zui小分度值分為常量天平(稱量和zui小分度值分別為100~200g和0.01~1mg)、半微量天平 (30~100g和1~10µg)、微

量天平(3~30g和0.1~1µg)和超微量天平 (3~5g和0.1µg以下)?!?br />
雙盤等臂機械天平  一般按結構分為普通標牌天平、微分標牌天平和架盤天平 3種。也可按用途分為檢定天平、分析天平、精密天平和普通天平4種。
 
 檢定天平是*、商檢部門或其他有關部門或工廠專門用來檢查或校準砝碼的天平。

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