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粒度測量儀是測試粉體樣品中各種大小的顆粒占顆粒總數的比例的設備。當樣品中所有顆粒的真密度相同時，顆粒的重量分布和體積分布一致。在沒有特別說明時，儀器給出的粒度分布一般指重量或體積分布。具有測量速度快、動態范圍大、操作簡便、重復性好等優點。本公司提供的EyeTech粒度測量儀的測量原理：
粒徑分析 (PSA)：該設備采用有名的激光遮擋法(LOT)。這是一種針對旋轉的激光光束遮擋時間 的粒徑分析技術。樣品中顆粒被聚焦的He-Ne 激光掃描，該激光采用楔形棱鏡，以200Hz的速度旋轉。在角速度已知的情況下，每一顆粒的直徑都可以用遮擋信號的持續時間來計算。這免除了其它分析技術所需的對檢測器靈敏度進行校正的必要性。顆粒粒徑是直接測出來的，而不是通過粒徑的二級特點推算出來的。不受折射率指數、粘度變化、布朗運動、熱傳導和其它物理現象的影響。
動態粒形分析 (DSC)采用樣品的原位圖像來分析粒形特征。收集顆粒數字圖像并分析大量形狀參數。動態顯微鏡同步頻閃光在顆粒在動態流動過程中，可以連續捕捉“靜止”圖片。這樣就不必停止液體流動和限制對靜止物體的監測。大量圖片被放大、處理和自動分析，確保結果具有充分的代表性。圖像和統計數據都可以打印或儲存，作為樣品記錄。
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