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偏光顯微鏡是鑒定材料中微細構造及光學特征的一類顯微鏡，是利用光的偏振特性對具有雙折射性物質進行研究鑒定的理想儀器，可供單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察。
基本原理：
偏光顯微鏡將普通光改變為偏振光進行鏡檢的方法,以鑒別某一物質是單折射(各向同性)或雙折射(各向異性)。此外,雙折射性是晶體的基本特征,也包括了相當廣泛的應用。
偏光鏡的校正：
（1）確定下偏光鏡（起偏振鏡）的振動方向：將上偏光鏡（檢偏振鏡）自鏡中推出，只用下偏光鏡觀察工作臺上。轉動工作臺，當黑云母解理縫與下偏光鏡的振動方向平行時對黑云母吸收性強，此時呈現深棕色；當解理縫與起偏振鏡的振動方向垂直時，黑云母吸收性微弱，此時晶體呈現淡黃色，據此就能確定起偏振鏡的振動方向。
（2）調整下偏光鏡的振動方向與目鏡分劃板十字線橫絲平行：將黑云母解理縫與目鏡分劃板十字線橫絲平行，轉動下偏光鏡至黑云母呈現深棕色位置，此時下偏光鏡的振動方向平行橫絲，其刻線應對準0°或180°。
（3）確定上偏光鏡（檢偏振鏡）與下偏光鏡（起偏振鏡）的振動方向正交：將黑云母切片取出，推入上偏光鏡，如果視域呈黑暗，則上、下偏光鏡振動方向正交；否則轉動上偏光鏡直至視域最黑暗。
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