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鍍層測厚儀X-Strata920系列屬于X射線熒光鍍層厚度測量儀，廣泛應用于PCB、FPC、LED、SMT、連接器、端子、五金產品、汽車零部件、衛浴潔具、珠寶等行業的表面鍍層厚度測量、材料分析；是各類電鍍產品鍍層厚度測量的理想檢測工具。
特點：
1.測量精度高、穩定性好，測量結果精確μin。
2.快速無損測量，測量時間短，10秒內得出測量結果。
3.可定性、半定量和定量分析。
4.進行貴金屬檢測，如Au karat評價。
5.材料鑒別和分類檢測，材料和合金元素分析，元素光譜定性分析。
6.強大的數據統計、處理功能：平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數據分組、X-bar/R圖表、直方圖。
7.結果輸出：直接打印或一鍵導出到PDF、Excel文件；報告包含數據、圖像、統計圖表、客戶信息等。
8.測量位置預覽功能；高分辨率彩色CCD樣品觀察系統，標準光學放大倍數為30倍
激光對焦和自動對焦功能；單擊鼠標，Z軸自動掃描，鐳射聚焦。
安全性：
自動鎖定功能，防止未授權的操作。
簡單用戶界面只向日常操作員設定有限的授權。
主管人員可進行系統維護。
系統自動生成操作員的使用記錄。
Z軸保護傳感器。
安全防射線光閘。
樣品室門開閉傳感器。
X射線鎖。
X射線警示燈。
緊急停止按鈕。
前面板安全鈕和后面板安全鎖。
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