多元素分析儀XRF光譜EDX9000B-plus無損快速分析檢測各類礦石礦產(chǎn)樣品
元素分析儀,是指同時或單獨實現(xiàn)樣品中多種種元素的分析的儀器。各類元素分析儀雖結(jié)構(gòu)和性能不同,而性能各異。新款元素分析儀EDX9000B基于XRF光譜無損檢測技術(shù),已越來越受到市場歡迎。
英飛思科學儀器的元素分析儀EDX9000B,從2016年開始商業(yè)化發(fā)布。2017年底推出的新型號9000Bplus ,集十多年的專業(yè)技術(shù)經(jīng)驗、創(chuàng)新、科技進步于一體的全新一代元素分析儀。
目前在擁有眾多客戶和良好口碑,是目前市場上可靠和準確的元素分析儀之一。
應用領域:
EDX9000B plus元素分析儀應用范圍廣泛,適合有石化、農(nóng)業(yè)、食品、海洋、能源,無機化學、制藥、材料、環(huán)境、及石油化工等領域的分析。
元素分析——滿足實驗需求
EDX9000B plus優(yōu)秀的分析性能,使其可以輕松完成對以下礦種的測試:
鐵礦(磁鐵礦、赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等)
銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等)
鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等)
鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等)
鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等)
鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等)
鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等)
鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等)
鋁土礦
其它礦類
產(chǎn)品特點
1.小型化、高性能、高速度、易操作,Na11-U92高靈敏度、高精度分析
2.可同時分析40種元素
3.采用多準直器多濾光片和扣背景技術(shù)
4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器提供出色的短期重復性和長期再現(xiàn)性以及出色的元素峰分辨率
5.超高記數(shù)數(shù)字多道電路設計,雙真空抽速機構(gòu),真空度自動穩(wěn)定系統(tǒng)
6.標配基本參數(shù)法軟件,多任務,多窗口操作
7.薄膜濾光片技術(shù),有效提高輕元素檢出限
元素分析儀EDX9000B plus參數(shù)指標
儀器外觀尺寸: 565mm*385mm*415mm |
超大樣品腔:465mm*330mm*110mm |
半封閉樣品腔(抽真空時):Φ150mm×高75mm |
儀器重量: 48Kg |
元素分析范圍:Na11-U92鈉到鈾 |
可分析含量范圍:1ppm- 99.99% |
探測器:AmpTek 超高分辨率電制冷Fast SDD硅漂移檢測器 |
探測器分辨率:122 eV FWHM at 5.9 keV |
處理器類型:全數(shù)字化DP-5分析器 |
譜總通道數(shù):4096道 |
X光管:高功率50瓦光管(進口管芯),冷卻方式:硅脂冷卻 |
光管窗口材料:鈹窗 |
準直器:多達8種選擇,最小0.2mm |
濾光片:7種濾光片的自由選擇和切換 |
高壓發(fā)生裝置:原裝美國高壓,電壓輸出:0-50kV;輸出電流:0-1mA |
高壓參數(shù):最小5kv可控調(diào)節(jié),自帶電壓過載保護,輸出精度:0.01% |
樣品觀察系統(tǒng):500萬像素高清CCD攝像頭 |
電壓:220ACV 50/60HZ |
環(huán)境溫度:-10 °C 到35 °C |
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