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SCIEX TOF質譜儀采集技術介紹——SWATH 采集技術

來源:上海隱智科學儀器有限公司   2022年08月05日 09:11  

SCIEX TripleTOF 系統(tǒng)上的 SWATH 采集技術已快速成為復雜樣品分析物鑒定和定量分析所用的重要質譜采集策略之一。SWATH 采集技術策略借助 SCIEX TripleTOF 和四極桿飛行時間 QTOF 技術的性能和速度實現(xiàn)。通過公正的數(shù)據采集策略提供試驗所需的數(shù)據完整性,從而降低漏掉樣品中重要成分的風險。


SWATH 采集技術是一種非數(shù)據依賴型采集策略,可對樣品中所有可檢測到的化合物進行檢測和定量分析 (MS/MSALL)。通過結合 SCIEX TripleTOF 和 QTOF 硬件才能實現(xiàn)的高靈敏度和高速 MS/MS 采集,可以碎裂樣品中所有可檢測的分析物。


SWATH 采集技術與數(shù)據依賴型采集技術 (DDA)有何區(qū)別


數(shù)據依賴型采集技術 (DDA):


在液質聯(lián)用(LC-MS)分析過程中,隨著時間的延長,將會有大量分析物從色譜柱洗脫出來并進入質譜儀中。數(shù)據依賴型采集技術會在較寬的 m/z 范圍內收集 MS 光譜,檢測到的分析物峰按強度降序排序。然后,從列表頂部開始觸發(fā)分析物的 MS/MS 采集。這一過程會在液相(LC)梯度上不斷重復進行。這里會使用較窄的 Q1 隔離窗,僅發(fā)送相關分析物進行 MS/MS 分析。但是,DDA 有一個重要局限:如果同時洗脫出大量分析物并且這些分析物的豐度差別很大,就非常可能遇到低含量分析物在原始 MS 譜圖中未能檢出,或者質譜儀運行超時(由于樣品過于復雜,運行速度相對顯得過慢)的風險,從而導致無法捕捉在 MS 模式下檢測的所有物質的 MS/MS 譜圖。這會導致數(shù)據遺漏。


SWATH 采集技術(非數(shù)據依賴型采集技術 (DIA)):


在 SWATH 采集技術中,質譜儀不需要初始檢測 MS 峰即可繼續(xù)進行 MS/MS 分析。質譜儀在整個 m/z 質量檢測范圍內使用更寬的 Q1 隔離窗,從而可以收集通過每個 Q1 窗的所有可檢測分析物的完整 MS/MS 譜圖。此方法在 LC 時間范圍(周期時間較短)內查詢整個質量范圍,確保您獲得樣品中可檢測的每個峰的完整 MS 和 MS/MS 圖。此技術可提供的數(shù)據完整性。


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