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介電常數(shù)測試的主要意義和用途介紹

來源:北京縱橫金鼎儀器設備有限公司   2021年11月20日 12:06  


一、介電常數(shù)測試的主要意義和用途:


1電容率(即介電常數(shù))——絕緣材料通常以兩種不同方式來使用,即(1)用于固定電學網(wǎng)絡部件,同時讓其彼此以及與地面絕緣;(2)用于起到某一電容器的電介質作用。在第一種應用中,通常要求固定的電容盡可能小,同時具有可接受且一致的機械,化學和耐熱性能。因此要求電容率具有一個低值。在第二種應用中,要求電容率具有一個高值,以使得電容器能夠在外型上能盡可能小。有時使用電容率的中間值來評估在導體邊緣或末端的應力,以將交流電暈降至醉小。影響電容率的因子討論見附錄X3

交流損耗——對于這兩種場合(作為電學絕緣材料和作為電容器電介質),交流損耗通常必須是比較小的,以減小材料的加熱,同時將其對網(wǎng)絡剩余部分的影響降至醉小。在高頻率應用場合,特別要求損耗指數(shù)具有一個低值,因為對于某一給定的損耗指數(shù),電介質損耗直接隨著頻率而增大。在某些電介質結構中,例如試驗用終止襯套和電纜所用的電介質,通常電導增加可獲得損耗增大,這有時引入其來控制電壓梯度。在比較具有近似相同電容率的材料時或者在材料電容率基本保持恒定的條件下使用任何材料時,這可能有助于考慮耗散因子,功率因子,相位角或損耗角。影響交流損耗的因子討論見附錄X3

3相關性——當獲得適當?shù)南嚓P性數(shù)據(jù)時,耗散因子或功率因子有助于顯示某一材料在其它方面的特征,例如電介質擊穿,濕分含量,固化程度和任何原因導致的破壞。然而,由于熱老化導致的破壞將不會影響耗散因子,除非材料隨后暴露在濕分中。當耗散因子的初始值非常重要的,耗散因子隨著老化發(fā)生的變化通常是及其顯著的。


顯示數(shù)據(jù)介紹:

 

C1

材料拿出后,諧振時測得的電容值

C2

材料在夾具中,諧振時測得的電容值

Q1

材料拿出后,諧振時測得的Q值

Q2

材料在夾具中,諧振時測得的Q值

CZ

主機+測試夾具測得的結構電容值

CL

標準電感的分布電容值

C0

結構電容值+電感的分布電容值

D2

材料的厚度

tn

介質損耗系數(shù)/介質損耗正切值

 


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