科電MCW-2000B渦流涂層測厚儀影響測量的若干因素

MCW-2000B（渦流）涂層測厚儀是的結晶，它采用單片機技術，精度高、數字顯示、示值穩定、功耗低、操作簡單方便、觸摸按鍵、單探頭全量程測量、體積小、重量輕；且具有存儲、讀出、統計、低電壓指示、系統/零點/兩點校準，其性能達到當代同類儀器的*水平。

應用范圍：

本儀器采用渦流測厚法，可以方便無損地測量有色金屬基體上的油漆、塑料、橡膠等涂層的厚度，或者是鋁基體的陽極氧化膜的厚度等。該儀器廣泛應用于機械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業。

技術參數：

1、測量范圍：0~1200um

2、測量誤差：<3%±1um

3、小示值：1um

4、顯示方式：4位液晶數字顯示

5、主要功能：

(1).測量：單探頭全量程測厚

(2).存儲、刪除：可存入測量數據600個，對測量中的單個可疑數據進行刪除，也可以刪除存儲區內的所有數據。

(3).讀：讀出已存入的測量數據

(4).統計：設有三個統計量，平均值大值小值

(5).校準：可進行零點校準、兩點校準及系統校準

(6).電量：具有欠壓顯示功能

(7).打印：可打印測量值，選配微型打印機

(8).關機：具有自動關機和手動關機兩種方法

6、電源：兩節1.5v電池

7、功耗：大功耗100mw

8、外形盡寸：124mm *50mm *24mm

9、重量：150g（含電池）

10、使用環境溫度：0℃~+40℃ 相對濕度：不大于90%

11、基體小厚度：0.3mm

12、基體小平面的直徑：7mm

13、小曲率半徑：凸:1.5mm      凹:6mm

14、欠電壓指示：右上角顯示＂＂

*臨界厚度小：工件基體厚度大于1mm時，其涂層厚度的測量不受基體厚度影響。

影響測量的若干因素：

-基體金屬厚度

每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度，大于這個厚度測量就不受基體厚度的影響。

曲率

試件的曲率對測量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應在試件超過允許的曲率半徑的彎曲面上測量。

-表面粗糙度

基體金屬和表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統誤差和偶然誤差。每次測量時，在

不同位置上增加測量的次數，克服這種偶然誤差。

如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用沒有腐蝕性的溶液除去在基體金屬上的覆蓋層，再校對儀器零點。

-附著物質

本儀器對那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感。因此必須清除附著物質，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。

-探頭的放置

探頭的放置方式對測量有影響，在測量中使探頭與試樣表面保持垂直。

-試片的變形

探頭使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上會出現不太可靠的數據。

-讀數次數

通常儀器的每次讀數并不*相同。因此必須在每一測量面積內取幾個測量值，覆蓋層厚度的局部差異，也要求在給定的面積內進行測量，表面粗糙時更應如此。