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波長色散熒光光譜儀是一種分析技術儀器，它使用X射線與材料的相互作用來確定其元素組成。波長色散熒光光譜儀適用于固體、液體和粉末，并且在大多數情況下是非破壞性的。波長色散熒光光譜儀是一種現場篩選方法，不會消除對傳統實驗室分析的需求。
波長色散熒光光譜儀可以在原子級發生的簡單三步過程中考慮：
傳入的 X 射線從材料原子內的原子核周圍的軌道之一中敲出電子。
在軌道中產生一個空穴，導致原子具有高能量、不穩定的構型。
為了恢復平衡，一個電子從更高能量的外軌道落入空穴。由于這是一個較低的能量位置，多余的能量以熒光 X 射線的形式發射。
排出電子和替代電子之間的能量差異是發生熒光過程的元素原子的特征——因此，發射的熒光 X 射線的能量與被分析的特定元素直接相關。正是這一關鍵特性使 XRF 成為如此快速的元素組成分析工具。
波長色散熒光光譜儀分析的好處是什么？
XRF分析是一種可靠的技術，將高精度和高準確度與簡單，快速的樣品制備結合在一起。它可以很容易地實現自動化，以用于高通量工業環境，此外，波長色散熒光光譜儀還可以提供有關樣品的定性和定量信息。波長色散熒光光譜儀還可以使快速篩選分析。
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