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VOC手工監(jiān)測(cè)-校準(zhǔn)曲線(xiàn)繪制避坑指南 (下)-北京博賽德
在實(shí)驗(yàn)室VOC手工監(jiān)測(cè)實(shí)驗(yàn)中,校準(zhǔn)曲線(xiàn)屬于實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量控制的范圍,一個(gè)好的校準(zhǔn)曲線(xiàn)不但可以對(duì)目標(biāo)物質(zhì)進(jìn)行BCT的定性定量,而且能評(píng)價(jià)稀釋系統(tǒng)、濃縮系統(tǒng)、分析系統(tǒng)等是否正常。校準(zhǔn)曲線(xiàn)在繪制過(guò)程中經(jīng)常會(huì)遇到各種各樣的問(wèn)題,北京博賽德應(yīng)用工程依據(jù)多年經(jīng)驗(yàn)總結(jié)出這份-校準(zhǔn)曲線(xiàn)繪制避坑指南,對(duì)常見(jiàn)問(wèn)題進(jìn)行總結(jié),分析可能的原因并提出有效的解決措施。
VOC手工監(jiān)測(cè)-校準(zhǔn)曲線(xiàn)繪制避坑指南 (中),我們總結(jié)了兩個(gè)常見(jiàn)問(wèn)題,今天我們繼續(xù)探討校準(zhǔn)曲線(xiàn)的另外兩個(gè)問(wèn)題:
3、曲線(xiàn)負(fù)截距
a. 若所有物質(zhì)的校準(zhǔn)曲線(xiàn)均出現(xiàn)負(fù)截距情況,可能是低濃度點(diǎn)的進(jìn)樣體積小,導(dǎo)致體積計(jì)量不準(zhǔn),可以采用低、高兩個(gè)濃度標(biāo)氣來(lái)繪制校準(zhǔn)曲線(xiàn),避免小體積進(jìn)樣。也可能是系統(tǒng)漏氣,需要對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行檢漏。
b. 若部分物質(zhì)(如高沸點(diǎn)物質(zhì)等)校準(zhǔn)曲線(xiàn)出現(xiàn)負(fù)截距,可能是整個(gè)系統(tǒng)對(duì)目標(biāo)物有吸附,可初步排查以下環(huán)節(jié):(1)確保系統(tǒng)與樣品接觸的部分均經(jīng)過(guò)惰性涂覆,且有惰性測(cè)試報(bào)告;(2)清洗離子源,確保質(zhì)譜離子源干凈;(3)確保捕集阱溫度傳感器經(jīng)過(guò)校準(zhǔn),儀器方法設(shè)置合理。若初步排查沒(méi)有問(wèn)題,表明預(yù)濃縮系統(tǒng)或采樣罐被顆粒物污染,當(dāng)顆粒物進(jìn)入采樣罐或分析系統(tǒng)時(shí),會(huì)對(duì)部分目標(biāo)物有一定吸附,影響測(cè)試結(jié)果。可排查以下環(huán)節(jié):
(1)提高預(yù)濃縮系統(tǒng)的烘烤溫度,延長(zhǎng)烘烤時(shí)間,根據(jù)色譜柱的內(nèi)徑調(diào)大柱流速,同時(shí)打開(kāi)分流閥和進(jìn)樣閥,判斷預(yù)濃縮系統(tǒng)是否被污染;(4)用高純氮?dú)鈱?duì)樣品管線(xiàn)進(jìn)行吹掃或用甲醇清洗,判斷樣品管線(xiàn)是否被污染;(5)若以上環(huán)節(jié)均沒(méi)有問(wèn)題,需要對(duì)M1、M2、M3進(jìn)行逐一排查,判斷三個(gè)冷阱是否被污染,若被污染需要進(jìn)行更換。
當(dāng)系統(tǒng)出現(xiàn)顆粒物污染時(shí),解決措施比較復(fù)雜,耗費(fèi)人力物力。因此在用采樣罐采集環(huán)境空氣樣品時(shí)需要加裝顆粒過(guò)濾裝置,避免顆粒物進(jìn)入采樣罐進(jìn)而污染分析系統(tǒng);在日常使用時(shí),定期檢查過(guò)濾裝置是否堵塞,定期清洗或更換過(guò)濾器,這也可以減少顆粒物對(duì)采集的樣品產(chǎn)生負(fù)面影響的可能性。
4、兩罐標(biāo)氣繪制校準(zhǔn)曲線(xiàn)的問(wèn)題
使用兩罐標(biāo)氣繪制校準(zhǔn)曲線(xiàn)可以避免小體積進(jìn)樣時(shí)體積計(jì)量不準(zhǔn),有利于發(fā)現(xiàn)標(biāo)氣配制或保存環(huán)節(jié)出現(xiàn)的問(wèn)題以及系統(tǒng)中存在的吸附或殘留等問(wèn)題。不過(guò)使用兩罐標(biāo)氣繪制校準(zhǔn)曲線(xiàn)會(huì)出現(xiàn)新的問(wèn)題,比如每罐標(biāo)氣各自濃度點(diǎn)的線(xiàn)性很好,但校準(zhǔn)曲線(xiàn)總體線(xiàn)性不好,并出現(xiàn)正截距或負(fù)截距現(xiàn)象。
a. 若出現(xiàn)正截距情況,可能是低濃度標(biāo)氣罐沒(méi)有清洗干凈,罐中有目標(biāo)物殘留,可以重新清洗標(biāo)氣罐、增加清洗循環(huán)次數(shù),并在日常清洗完成后進(jìn)行罐清洗BCT抽查;也可能是在配氣、分析過(guò)程中引入了實(shí)驗(yàn)室空氣,需要在配氣和分析前注意:配氣前先用高純氮?dú)獯祾吖苈罚治銮跋炔灰蜷_(kāi)標(biāo)氣罐閥門(mén),用預(yù)濃縮系統(tǒng)對(duì)管路抽真空后再打開(kāi)閥門(mén)。
b. 若出現(xiàn)負(fù)截距情況,可能是低濃度標(biāo)氣罐被顆粒物污染或惰性涂層被破壞,導(dǎo)致目標(biāo)物在罐中被吸附。在日常測(cè)試時(shí)要專(zhuān)罐BCT,避免標(biāo)氣罐與采樣罐混用,并且在罐子沒(méi)有連接儀器時(shí)要及時(shí)蓋上密封帽,避免顆粒物通過(guò)閥門(mén)進(jìn)入罐子;此外,還需定期對(duì)在用罐子進(jìn)行惰性檢查,BCT在用罐子每3年少被檢查1次。
影響校準(zhǔn)曲線(xiàn)的因素眾多,涉及標(biāo)氣罐、清洗、配氣、預(yù)濃縮、分析等環(huán)節(jié)的方方面面;校準(zhǔn)曲線(xiàn)出現(xiàn)的問(wèn)題也不盡相同,正截距還是負(fù)截距,所有物質(zhì)還是部分性質(zhì)相同的物質(zhì)等等。
校準(zhǔn)曲線(xiàn)繪制避坑指南分享就此完結(jié),本文總結(jié)的現(xiàn)象、問(wèn)題、原因、解決方法可能有所遺漏,歡迎大家留言一起討論!
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