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內置打印機的電磁膜測厚儀的鼎級儀器-堪稱*

來源:深圳市秋山貿易有限公司   2020年10月22日 18:06  

電磁膜厚計LE-200J

 

 

  • 內置打印機的電磁膜測厚儀的鼎級型號
  • 測量范圍0-1500μm
  • 小于15μm的測量精度:±0.3μm,15μm或更高:±2%
  • 數據存儲1500點,統計計算功能

 

主要規格

測量方式電磁感應式
測量目標磁性金屬上的非磁性涂層
測量范圍0-1500μm或60.00密耳
測量精度小于15μm:±0.3μm,15μm或以上:±2%
解析度小于100μm:0.1μm,100μm或更大:1.0μm
符合標準JIS K5600-1-7,JIS H8501,JIS H0401 / ISO 2808,ISO 2064,ISO 1460,ISO 2178,ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499,ASTM D 7091-5,ASTM E 376
統計功能測量次數,平均值,標準偏差,大值,小值,程序段號
探測單點接觸恒壓型(LEP-J)
顯示方式數字(LCD,小顯示位數0.1μm)
外部輸出RS-232C接口(傳輸速度2400bps)
電源供應AC100V(50 / 60Hz)或電池1.5V(AA堿性)主機x 6,打印機x 4
尺寸/質量120(W)x 250(D)x 55(H)毫米,1.0公斤
配件標準板(10μm,50μm,100μm,350μm,800μm,1 mm,所有近似值,各1張),鐵底座,標準板盒,電池1.5 V(AA堿性),AC適配器,探針適配器,打印機紙,攜帶案件
選項L型探頭(LEP-21L),RS-232C連接電纜,數據管理軟件“ Data Logger KLD-01”,“ McWAVE Lite”,“ McWAVE Standard”,“ McWAVE Professional”,“ MultiProp”

 

關于凱特的膜厚計

 

膜厚計的種類和用途

對使用金屬的工業產品,在表面進行涂飾和鍍金等處理。在表面處理層中,薄的話容易產生腐蝕,厚的話經濟損失會變大,而且厚度不一定的話會降低不美觀的商品價值。也就是說,在涂飾和鍍金方面正確管理厚度是很重要的,承擔這一點的測定器是膜厚計。

根據素地金屬和測定的涂層的組合,有測定原理不同的幾種陣容,請選擇合適的種類。

電磁膜厚計的測量原理

 

渦流膜厚計的測量原理

 

磁性核

 

使交流電磁鐵接近鐵(磁性金屬)的話,根據接近距離,貫穿線圈的磁通數會發生變化,因此線圈兩端的電壓會發生變化。

從電流值讀取該電壓變化

取,換算成膜厚。

可以測量磁性金屬上的非磁性涂層。

 

絕緣體鐵芯

 

如果將流過一定高頻電流的感應線圈靠近金屬,金屬表面會產生渦流。這個渦流根據感應線圈和金屬面的距離而變化,因此感應線圈兩端的電壓也會變化。

將此變化從電流值轉換為讀取膜厚度。可以測量非磁性金屬上的絕緣涂層。

 

磁場

次線圈電壓的變化

二次線圈涂層磁性金屬

          

磁場

                                                                      文件電壓的變化

皮膜

                                                              非磁性金屬渦流

膜厚計的種類分類/可測量的基底和涂層

■:電磁膜厚計■:渦流膜厚計F:費舍爾鏡:可附帶條件?

 

 

不銹鋼材質有時不能根據條件進行測定。請事先咨詢。□空欄部分的組合可能會有一部分可以測定。請咨詢。

■附屬?選配標準板一覽(產品附帶的標準板與下表不同,是實測的近似值)

             容器種類

張數

 

 

 

厚度(μm)

 

 

 

材質

LE-200J/LZ-200J

6

10

50

100

350

 

800

1000

 

 

LH-200J

5

10

50

100

350

 

800

 

 

 

LE-373/LZ-373

6

10

50

100

 

500

 

1000

1500

 

LH-373

5

10

50

100

 

500

 

1000

 

聚酯薄膜

LZ-990

3

 

50

100

 

 

 

1000

 

 

所有設備類型通用選項

10

25 37

50 75

100

125

250

300 350

500 700

800

1000

1500

 

■探測一覽

類型

鋼筆型探頭(標準附屬):LEP-J/LHP-J

管內面測定用探頭(選配件):LEP-22

對應器種類

LE-200J/LH-200J/LZ-200J LE-373/LH-373/LZ-373

LE-200J

尺寸

 

 

類型

L型探頭(選配件):LEP-21L

對應器種類

LE-200J/LZ-200J LE-373/LZ-373

 

 

■膜厚計適用規格一覽

測定方式

容器種類

規格

電磁感應式

LE-200J LE-373

JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、JIS H8641

ISO 1460、ISO 2064、ISO 2178、ISO 2808、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、 ASTM D 7091-5、ASTM E 376

渦流式

LH-200J LH-373

JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H8680-2

ISO 2064、ISO 2360、ISO 2808、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 244、 ASTM D 7091-5、ASTM E 376

雙重

LZ-200J LZ-373

電磁感應式時

JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、JIS H8641

ISO 1460、ISO 2064、ISO 2178、ISO 2808、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376

類型

LZ-990

渦流式的情況

JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H8680-2

ISO 2064、ISO 2360、ISO 2808、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 244、 ASTM D 7091-5、ASTM E 376

電磁膜厚計LE-200J

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