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紫外可見分光光度計和積分球附件在半導體材料性能研究中的應用

來源:百道亨儀器設備(北京)有限公司   2018年01月09日 09:16  

背景

二氧化鈦(TiO2)因為其的光催化效果、化學穩定性、無毒無害、價格低廉等優勢成為材料科學領域的研究熱點。目前TiO2可應用于太陽能存儲與利用、污水處理、空氣凈化等領域,被認為是具有發展前景的半導體材料。但是由于T iO2比較寬的禁帶寬度[Eg=(3.0-3.2)eV],只有少量太陽光中的紫外光(3%-5%)能夠使二氧化鈦激發,這限制了半導體材料TiO2的實際應用。為了能夠增加其對可見光的相應,人們不斷通過金屬與非金屬摻雜對TiO2進行了改性研究,降低其帶隙能級,實現了可見光激發。

賽默飛Evolution220紫外可見分光光度計搭配ISA-220

積分球附件和Insight操作軟件,根據掃描改性后的二氧化鈦粉末樣品得到的反射光譜,通過在Insight軟件中進行導數處理和峰識別,可快速計算材料的禁帶寬度,便于科學研究的進行。

方法

采用積分球附件收集改性后的二氧化鈦粉末材料的反射光譜,利用Insight軟件自帶的導數分析和峰識別功能,求出zui大波長λmax,帶入下列公式即可計算出禁帶寬度值EgEg=hc/λmax其中h=4.13567 x10-15 eV•s , c=3x1017 nm/s

結果

1.改性后的二氧化鈦粉末反射譜圖利用Insight數據處理功能對譜圖求導,得到導數譜圖。2.樣品導數處理圖示使用Insight軟件自帶的峰選取功能求出zui大吸收波長。

1.改性后的二氧化鈦粉末反射譜圖利用Insight數據處理功能對譜圖求導,得到導數譜圖。3.樣品峰選取圖示

將識別出的zui大吸收波長502.9nm代入公式Eg=hc/λmax進行計算,其中h=4.13567 x10-15 eV•s , c=3x1017 nm/s, 得Eg=2.47 eVEg變小,吸收邊緣向長波方向移動,光學帶寬發生紅移。

結論:

使用Thermo Scientific Evolution220紫外可見分光光度計搭配ISA-220積分球附件和Insight操作軟件,可用于半導體材料性能研究,快速測試樣品的禁帶寬度。

 

 

 

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